利用单个发光粒子检测的光分析方法

    公开(公告)号:CN103119421B

    公开(公告)日:2015-04-08

    申请号:CN201180045547.8

    申请日:2011-09-16

    发明人: 田边哲也

    IPC分类号: G01N21/64

    摘要: 提供如下一种方法:在使用了共焦显微镜或多光子显微镜的光测量的扫描分子计数法中,避免由于多个发光粒子暂时包含在光检测区域内而发光粒子的检测个数的精度恶化。在本发明的光分析技术中,在一边通过变更共焦显微镜或多光子显微镜的光学系统的光路使光检测区域的位置在样本溶液内移动一边在测量光的强度而生成的光强度数据中,在以选择性地将具有超过阈值的强度的信号检测为表示发光粒子的光的信号的方式个别检测表示发光粒子的光的信号时,设定阈值使得选择性地检测表示来自包含在光检测区域内的比该光检测区域狭小的区域中的发光粒子的光的信号。

    使用两个以上的波长带的光的测量的光学分析方法

    公开(公告)号:CN103221806B

    公开(公告)日:2015-11-25

    申请号:CN201180043734.2

    申请日:2011-08-29

    IPC分类号: G01N21/64

    摘要: 提供一种光学分析技术,该光学分析技术使得能够使用共聚焦显微镜或多光子显微镜,通过光学测量识别与时序光强度数据上的信号相对应的发光颗粒的种类、或者识别与除观测颗粒以外的发光颗粒相对应的信号。本发明的光学分析技术同时分别测量来自包含两个以上种类的发光颗粒的样品溶液中的光检测区域的、两个以上波长带的光的强度,以生成各个波长带的时序光强度数据,检测在至少两个波长带的时序光强度数据上同时生成的信号,并且将同时生成的信号识别为至少一个特定种类的发光颗粒的信号。

    利用单个发光粒子检测的光分析装置、光分析方法以及光分析用计算机程序

    公开(公告)号:CN103460026B

    公开(公告)日:2015-06-10

    申请号:CN201280016619.0

    申请日:2012-03-26

    IPC分类号: G01N21/64

    摘要: 提供一种在使用了共焦显微镜或多光子显微镜的光测量的扫描分子计数法中容易地设定用于去除噪声的基准的结构。本发明的对样本溶液中的发光粒子的光进行检测的光分析技术的特征在于,通过变更显微镜的光学系统的光路,生成一边使光检测区域的位置在样本溶液内移动一边检测出的来自光检测区域的光的时序光强度数据,在时序光强度数据中个别地检测发光粒子的信号。在发光粒子的信号的检测中,抽出光强度处于根据信号发生频率累加值分布而设定的光强度范围内的信号作为发光粒子的信号,该信号发生频率累加值分布是以信号的强度为变量而强度为该变量以上的信号的发生频率的累加值的分布。