- 专利标题: 一种适用于嵌入式设备的故障注入测试系统及测试方法
- 专利标题(英): Fault injection testing system and testing method applied to embedded equipment
-
申请号: CN201310446154.9申请日: 2013-09-26
-
公开(公告)号: CN103529820A公开(公告)日: 2014-01-22
- 发明人: 张春侠 , 周春梅 , 董文杰 , 林金永 , 马继峰 , 张烁 , 路静 , 刘晴晴 , 钟颖
- 申请人: 北京航天自动控制研究所 , 中国运载火箭技术研究院
- 申请人地址: 北京市海淀区北京142信箱402分箱
- 专利权人: 北京航天自动控制研究所,中国运载火箭技术研究院
- 当前专利权人: 北京航天自动控制研究所,中国运载火箭技术研究院
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区北京142信箱402分箱
- 代理机构: 中国航天科技专利中心
- 代理商 臧春喜
- 主分类号: G05B23/02
- IPC分类号: G05B23/02
摘要:
本发明公开了一种适用于嵌入式设备的故障注入测试系统及测试方法,不改变待测嵌入式系统的硬件状态,利用系统自带的总线接口和内部可编程逻辑器件的灵活性实现故障注入,不会对待测系统造成物理损伤,可靠性高;故障注入测试不受距离的限制,在总线可靠传输距离内都可以进行故障注入测试,使用灵活方便;该故障注入测试系统采用软件硬件相结合的方法对待测目标系统硬件和软件进行测试,可实时、有效地完成故障注入,通过故障回收系统运行信息,可对嵌入式系统的容错性能给出客观的评价,进而为嵌入式系统设计人员改进硬件设计和软件的纠错、容错能力提供重要依据,最终实现高可靠性和高安全性的嵌入式系统运行环境。
公开/授权文献
- CN103529820B 一种适用于嵌入式设备的故障注入测试系统及测试方法 公开/授权日:2016-02-10