发明公开
- 专利标题: 一种变线宽激光振镜扫描快速刻蚀方法及装置
- 专利标题(英): Wire-width-variable laser galvanometer scanning quick etching method and device
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申请号: CN201410041778.7申请日: 2014-01-28
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公开(公告)号: CN103801838A公开(公告)日: 2014-05-21
- 发明人: 蒋明 , 何英 , 曾晓雁 , 王曦照 , 柯善浩 , 孙晓 , 段军 , 张菲
- 申请人: 华中科技大学
- 申请人地址: 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- 专利权人: 华中科技大学
- 当前专利权人: 武汉飞能达激光技术有限公司
- 当前专利权人地址: 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- 代理机构: 华中科技大学专利中心
- 代理商 曹葆青
- 主分类号: B23K26/362
- IPC分类号: B23K26/362 ; B23K26/042 ; B23K26/046 ; B23K26/064
摘要:
本发明公开了一种变线宽激光振镜扫描快速刻蚀方法及装置,本发明利用激光束离焦后功率密度梯度变小光斑变大的原理以及高速振镜扫描误差精确矫正方法,通过设置不同的在焦和离焦激光加工距离及对应功率参数和激光振镜扫描参数来控制激光光斑大小,对图形填充区采用离焦后的大光斑光栅扫描填充,然后对图形轮廓进行矢量扫描勾勒。本发明针对不同的工作距离预先进行振镜扫描误差矫正,生成高精度振镜扫描定位表,确保在不同激光加工距离获得同等高精度的振镜扫描定位效果。本发明能实现不同粗细线宽图形的快速精密刻蚀,兼顾了刻蚀精度和加工速度,可广泛应用于平面刻蚀系统和三维激光刻蚀系统,提高装备的加工效率。
公开/授权文献
- CN103801838B 一种变线宽激光振镜扫描快速刻蚀方法 公开/授权日:2016-01-20
IPC分类: