发明公开
- 专利标题: SiGeSn层及其形成方法
- 专利标题(英): SiGeSn layer and forming method thereof
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申请号: CN201410064556.7申请日: 2014-02-25
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公开(公告)号: CN103839788A公开(公告)日: 2014-06-04
- 发明人: 肖磊 , 王敬 , 赵梅 , 梁仁荣 , 许军
- 申请人: 清华大学
- 申请人地址: 北京市海淀区100084-82信箱
- 专利权人: 清华大学
- 当前专利权人: 清华大学
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区100084-82信箱
- 代理机构: 北京清亦华知识产权代理事务所
- 代理商 张大威
- 主分类号: H01L21/265
- IPC分类号: H01L21/265 ; H01L27/04
摘要:
本发明提出一种SiGeSn层及其形成方法。该方法包括以下步骤:提供顶部具有SiGe层的衬底;向SiGe层表层注入含有Sn元素的原子、分子、离子或等离子体,以形成SiGeSn层。该方法能够形成厚度较薄、质量较好的SiGeSn层,具有简单易行、成本低的优点。
IPC分类: