- 专利标题: 一种检测染色体STS区域微缺失的方法及其装置
- 专利标题(英): Method and device for detecting microdeletion in chromosome sts area
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申请号: CN201280070387.7申请日: 2012-02-27
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公开(公告)号: CN104145028A公开(公告)日: 2014-11-12
- 发明人: 刘晓 , 张俊杰 , 徐怀前 , 苏政 , 张瑞芳 , 王俊 , 汪建 , 杨焕明
- 申请人: 深圳华大基因医学有限公司
- 申请人地址: 广东省深圳市盐田区北山道146号北山工业区11栋2、3楼
- 专利权人: 深圳华大基因医学有限公司
- 当前专利权人: 深圳华大基因股份有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省深圳市盐田区北山道146号北山工业区11栋2、3楼
- 代理机构: 北京清亦华知识产权代理事务所
- 代理商 李志东
- 国际申请: PCT/CN2012/071648 2012.02.27
- 国际公布: WO2013/127049 ZH 2013.09.06
- 进入国家日期: 2014-08-21
- 主分类号: C12Q1/68
- IPC分类号: C12Q1/68
摘要:
一种检测染色体序列标签位点(STS)区域微缺失的方法及其装置。该方法包括:选取染色体上的STS区域,根据所述STS区域的DNA序列,设计得到相应的捕获探针;将捕获探针与多样本的DNA混合文库进行杂交,以捕获多样本中STS区域的DNA序列;将捕获的相应捕获探针的多样本中STS区域的DNA序列进行测序,得到测序数据;采用数理统计方法对所述测序数据进行分析,根据分析结论,获得每个样本中染色体STS区域微缺失的结果。
公开/授权文献
- CN104145028B 一种检测染色体STS区域微缺失的方法及其装置 公开/授权日:2016-10-12