Invention Publication
CN104157558A 闪存存储器栅极结构、制备方法及其应用
无效 - 驳回
- Patent Title: 闪存存储器栅极结构、制备方法及其应用
- Patent Title (English): Flash memory gate structure, preparation method and application
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Application No.: CN201310178475.5Application Date: 2013-05-15
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Publication No.: CN104157558APublication Date: 2014-11-19
- Inventor: 杨芸
- Applicant: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
- Applicant Address: 上海市浦东新区张江路18号
- Assignee: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
- Current Assignee: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
- Current Assignee Address: 上海市浦东新区张江路18号
- Agency: 上海光华专利事务所
- Agent 李仪萍
- Main IPC: H01L21/28
- IPC: H01L21/28 ; H01L29/423 ; H01L21/8247

Abstract:
本发明提供一种闪存存储器栅极结构、制备方法及其应用,与现有技术形成等宽的栅极结构相比较,采用本发明的制备方法形成的栅极结构包括具有第一宽度的控制栅以及具有第二宽度的浮栅,其中,第二宽度大于第一宽度,换言之,本发明在未改变浮栅关键尺寸的同时,减小了控制栅的关键尺寸,从而使本发明在保证闪存存储器性能几乎不受影响的前提下,进一步增加了控制栅与接触孔之间的距离,从而降低闪存存储器中字线与位线之间产生意外导通的几率,提高闪存存储器在循环操作中的有效性,增加闪存存储器的制备良率和可靠性。
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