发明公开
- 专利标题: 电路使用期计量装置与方法
- 专利标题(英): Device and method for measuring service life of circuit
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申请号: CN201310341916.9申请日: 2013-08-07
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公开(公告)号: CN104345261A公开(公告)日: 2015-02-11
- 发明人: 叶达勋 , 简育生 , 翁启舜
- 申请人: 瑞昱半导体股份有限公司
- 申请人地址: 中国台湾新竹
- 专利权人: 瑞昱半导体股份有限公司
- 当前专利权人: 瑞昱半导体股份有限公司
- 当前专利权人地址: 中国台湾新竹
- 代理机构: 北京康信知识产权代理有限责任公司
- 代理商 余刚; 李静
- 主分类号: G01R31/28
- IPC分类号: G01R31/28
摘要:
本发明披露了一种电路使用期计量装置与方法,电路使用期计量装置用来估测一目标电路的剩余使用期,包含:一参考时钟接收端,用来接收一参考时钟;一关联信号产生电路,用来提供一关联信号,该关联信号产生电路与该目标电路的至少部分操作条件为同步变化;一储存电路,用来储存该参考时钟与该关联信号的一初始关系;一计量电路,耦接该参考时钟接收端与该关联信号产生电路,用来计量该参考时钟与该关联信号的一当前关系;以及一估测电路,耦接该储存电路与该计量电路,用来依据该初始关系与该当前关系产生一估测值,其中该估测值指示该目标电路的剩余使用期。
公开/授权文献
- CN104345261B 电路使用期计量装置与方法 公开/授权日:2018-01-16