发明公开
- 专利标题: 分光器所用的波长校准方法以及分光光度计
- 专利标题(英): Wavelength calibration method for monochromator, and spectrophotometer
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申请号: CN201410454212.7申请日: 2014-09-05
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公开(公告)号: CN104422516A公开(公告)日: 2015-03-18
- 发明人: 湊浩之
- 申请人: 株式会社岛津制作所
- 申请人地址: 日本京都府
- 专利权人: 株式会社岛津制作所
- 当前专利权人: 株式会社岛津制作所
- 当前专利权人地址: 日本京都府
- 代理机构: 北京林达刘知识产权代理事务所
- 代理商 刘新宇
- 优先权: 2013-185593 2013.09.06 JP
- 主分类号: G01J3/02
- IPC分类号: G01J3/02 ; G01J3/28
摘要:
本发明涉及一种分光器所用的波长校准方法以及分光光度计。提供一种用于通过将来自发光强度包含预定周期的变化的标准光源的光照射到分光器的衍射光栅上并且测量该衍射光栅所反射的光的强度来进行具有衍射光栅的分光器的波长校准的方法。该方法包括以下步骤:在与包括标准光源所生成的亮线光谱光的峰值波长的范围的各波长相对应的衍射光栅的各转动位置处,在该周期内至少两次测量来自衍射光栅的反射光的强度;基于该转动位置处所获得的所有测量值来确定该转动位置处的强度值(201);以及将强度值(201)最大的波长确定为亮线光谱光的峰值波长。
公开/授权文献
- CN104422516B 分光器所用的波长校准方法以及分光光度计 公开/授权日:2017-04-12