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公开(公告)号：CN106338341B
公开(公告)日：2019-05-10
申请号：CN201610518851.4
申请日：2016-07-04
申请人： 株式会社岛津制作所
发明人： 湊浩之
摘要： 提供一种光谱检测器，包括：光源(11)，用于产生多色光；单个衍射光栅(13)；激发光学系统，用于将来自光源(11)的光引导到衍射光栅(13)上，用于从通过衍射光栅(13)衍射的光中选择一个波长，以及用于将选定波长的光作为激发光投射到样品中；检测光学系统，用于将从被激发光照射的样品发出的观测光引导到衍射光栅(13)上并使观测光色散；以及光电检测器(15)，用于检测由检测光学系统色散的观测光。通过在激发光学系统和检测光学系统两者中使用一个衍射光栅(13)，减少了衍射光栅的数目，由此实现装置的成本降低以及小型化两者。
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公开(公告)号：CN106338341A
公开(公告)日：2017-01-18
申请号：CN201610518851.4
申请日：2016-07-04
申请人： 株式会社岛津制作所
发明人： 湊浩之
CPC分类号： G01J3/18 , G01J3/0291 , G01J3/10 , G01N30/74 , G01N21/65 , G01J3/44 , G01J3/0243 , G01J3/0259 , G01J3/4406 , G01J2003/064 , G01N21/645
摘要： 提供一种光谱检测器，包括：光源(11)，用于产生多色光；单个衍射光栅(13)；激发光学系统，用于将来自光源(11)的光引导到衍射光栅(13)上，用于从通过衍射光栅(13)衍射的光中选择一个波长，以及用于将选定波长的光作为激发光投射到样品中；检测光学系统，用于将从被激发光照射的样品发出的观测光引导到衍射光栅(13)上并使观测光色散；以及光电检测器(15)，用于检测由检测光学系统色散的观测光。通过在激发光学系统和检测光学系统两者中使用一个衍射光栅(13)，减少了衍射光栅的数目，由此实现装置的成本降低以及小型化两者。
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公开(公告)号：CN110824080B
公开(公告)日：2021-10-26
申请号：CN201910423484.3
申请日：2019-05-21
申请人： 株式会社岛津制作所
发明人： 湊浩之
IPC分类号： G01N30/74
摘要： 一种分光检测器，其特征在于，具备:光源；流动池，供试样在内部的空间流动；衍射光栅，设计为正级衍射光与负级衍射光中的一方的强度比另一方的强度高，用于对来自光源的光进行分光；衍射光栅驱动部，在能够选择性地将正级衍射光的规定波长区域的光以及负级衍射光的所述规定波长区域的光向所述流动池引导的范围内，调整所述衍射光栅的旋转位置；光传感器，用于对从所述流动池射出的光进行检测；衍射光栅位置调整部，构成为对所述衍射光栅驱动部的动作进行控制而对所述衍射光栅的旋转位置进行调整，从而选择性地将所述衍射光栅产生的衍射光中的正侧衍射光的规定波长区域的光或者负侧衍射光的所述规定波长区域的光的任一方的光向所述流动池引导。
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公开(公告)号：CN110824080A
公开(公告)日：2020-02-21
申请号：CN201910423484.3
申请日：2019-05-21
申请人： 株式会社岛津制作所
发明人： 湊浩之
IPC分类号： G01N30/74
摘要： 一种分光检测器，其特征在于，具备:光源；流动池，供试样在内部的空间流动；衍射光栅，设计为正级衍射光与负级衍射光中的一方的强度比另一方的强度高，用于对来自光源的光进行分光；衍射光栅驱动部，在能够选择性地将正级衍射光的规定波长区域的光以及负级衍射光的所述规定波长区域的光向所述流动池引导的范围内，调整所述衍射光栅的旋转位置；光传感器，用于对从所述流动池射出的光进行检测；衍射光栅位置调整部，构成为对所述衍射光栅驱动部的动作进行控制而对所述衍射光栅的旋转位置进行调整，从而选择性地将所述衍射光栅产生的衍射光中的正侧衍射光的规定波长区域的光或者负侧衍射光的所述规定波长区域的光的任一方的光向所述流动池引导。
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公开(公告)号：CN104105962A
公开(公告)日：2014-10-15
申请号：CN201280069259.0
申请日：2012-12-21
申请人： 株式会社岛津制作所
发明人： 湊浩之
CPC分类号： G01N1/00 , G01N30/00 , G01N30/24 , G01N35/10 , G01N35/1011 , G01N2001/002
摘要： 控制部(5)使针管(3)的顶端移动至基准部位(9)内后，使针管(3)向X方向的正负两方向以及Y方向的正负两方向、及Z方向移动，直到基于检测部(15)的检测信息检测出基准部位(9)和针管(3)的接触。控制部(5)基于基准部位(9)和针管(3)的接触位置，计算出基准部位(9)的内壁面形状的对称中心的位置作为基准部位(9)的X位置以及Y位置，将基准部位(9)的底面的位置作为基准部位(9)的Z位置。控制部(5)基于基准部位(9)的X位置、Y位置以及Z位置得到样品架的基准位置信息。
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公开(公告)号：CN101393117A
公开(公告)日：2009-03-25
申请号：CN200810161703.7
申请日：2008-09-22
申请人： 株式会社岛津制作所
发明人： 湊浩之
摘要： 提供了一种能够在以旋转方式驱动波长色散元件时尽可能减小摆动影响并能够提高分析精度的分光光度计。当从荧光检测器获得荧光信号时，中央控制单元以采样间隔T1对荧光信号进行A/D转换，以进行摆动收敛判定，并向数据处理器提供结果数据(S1)。在执行摆动收敛判定(S2)时，数据处理器对所获得的数据信号执行预定信号处理(S3)，并判断已获得的最新数据之前给定时段内全部数据是否均等于或小于一指定值(S4)。如果全部数据都等于或小于所述指定值，就判定衍射光栅的摆动收敛，并终止摆动收敛判定操作。此后，中央控制单元将A/D转换的采样间隔变为间隔T2，以获取分析数据，并执行荧光分光光度测量。
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公开(公告)号：CN104422516B
公开(公告)日：2017-04-12
申请号：CN201410454212.7
申请日：2014-09-05
申请人： 株式会社岛津制作所
发明人： 湊浩之
CPC分类号： G01J3/18 , G01J3/28 , G01J2003/2866
摘要： 本发明涉及一种分光器所用的波长校准方法以及分光光度计。提供一种用于通过将来自发光强度包含预定周期的变化的标准光源的光照射到分光器的衍射光栅上并且测量该衍射光栅所反射的光的强度来进行具有衍射光栅的分光器的波长校准的方法。该方法包括以下步骤：在与包括标准光源所生成的亮线光谱光的峰值波长的范围的各波长相对应的衍射光栅的各转动位置处，在该周期内至少两次测量来自衍射光栅的反射光的强度；基于该转动位置处所获得的所有测量值来确定该转动位置处的强度值(201)；以及将强度值(201)最大的波长确定为亮线光谱光的峰值波长。
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公开(公告)号：CN104105962B
公开(公告)日：2016-11-30
申请号：CN201280069259.0
申请日：2012-12-21
申请人： 株式会社岛津制作所
发明人： 湊浩之
摘要： 控制部(5)使针管(3)的顶端移动至基准部位(9)内后，使针管(3)向X方向的正负两方向以及Y方向的正负两方向、及Z方向移动，直到基于检测部(15)的检测信息检测出基准部位(9)和针管(3)的接触。控制部(5)基于基准部位(9)和针管(3)的接触位置，计算出基准部位(9)的内壁面形状的对称中心的位置作为基准部位(9)的X位置以及Y位置，将基准部位(9)的底面的位置作为基准部位(9)的Z位置。控制部(5)基于基准部位(9)的X位置、Y位置以及Z位置得到样品架的基准位置信息。
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