Invention Grant
CN104477403B 航天器总漏率测试用检漏取放样循环系统控制台
失效 - 权利终止
- Patent Title: 航天器总漏率测试用检漏取放样循环系统控制台
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Application No.: CN201410664747.7Application Date: 2014-11-19
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Publication No.: CN104477403BPublication Date: 2016-08-17
- Inventor: 丁冉 , 刘胜 , 师立侠 , 杨定魁 , 钟亮 , 刘兴悦 , 喻新发 , 孙立臣 , 洪晓鹏 , 孟冬辉
- Applicant: 北京卫星环境工程研究所
- Applicant Address: 北京市海淀区友谊路104号
- Assignee: 北京卫星环境工程研究所
- Current Assignee: 北京卫星环境工程研究所
- Current Assignee Address: 北京市海淀区友谊路104号
- Main IPC: B64F5/00
- IPC: B64F5/00

Abstract:
本发明公开了一种航天器总漏率测试用检漏取放样循环系统控制台,取放样循环系统控制台的长方体机箱由可拆卸的上盖和下底两部分组成,上盖部分设置有圆形凹槽用于安装标准容积,上盖侧壁上设置有取样口,通过取样工装与取样阀连通,取样阀与放样阀在上盖部分相对设置并分别与标准容积连通,取样阀、放样阀通过三通与下底部分中的样气泵连接,下底部分的底面上并列设置标气泵和样气泵,样气泵和表气泵分别通过变压器对其进行供电,下底部分的外侧壁上设置有标气、样气管路连接进出口,分别通过管路与样气泵和标气泵连通。
Public/Granted literature
- CN104477403A 航天器总漏率测试用检漏取放样循环系统控制台 Public/Granted day:2015-04-01
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