航天器GFDV型加排阀精确限位开关装置

    公开(公告)号:CN108105460A

    公开(公告)日:2018-06-01

    申请号:CN201711382463.9

    申请日:2017-12-20

    CPC classification number: F16K31/50

    Abstract: 本发明公开了一种航天器GFDV型加排阀精确限位开关装置,限位装置具有主动限位和被动限位两部分,主动限位为整体装置的前端,与后端旋转螺帽相连接,主动限位端为圆柱形圈环,通过开关端后使其后端旋转螺帽螺纹与开关端外螺纹接触旋转带劲,旋转螺帽旋入使主动挡圈顶触到阀体上六方面后停止,起到限位作用;被动限位装于整体装置的后端,当整体限位旋紧到到位后,起到了第二到限位功能。本发明装饰小巧轻便,功能性强、操作简单快捷,能起到精确限位的作用。

    卫星总漏率测试用取放样装置及取放样标定方法

    公开(公告)号:CN104089745A

    公开(公告)日:2014-10-08

    申请号:CN201410369471.X

    申请日:2014-07-30

    Abstract: 本发明公开了一种卫星总漏率测试过程中使用的取放样装置主要包括具有固定容积的腔体、腔体上方连通设置有十字相交的横管和纵管,横管与纵管的内部呈十字连通结构,横管两端分别用作总漏率测试用的气体取样口和气体放样口,纵管顶部设置有开关阀门以分别针对取样和放样过程对腔体内的气体进出横管进行控制、开关阀门与纵管的内侧设置有0型密封圈以防止气体在取放样过程中从纵管上端逸出。本发明还公开了一种利用该装置取放样的方法。该方法与现有技术相比,可实现在卫星总漏率测试现场快速进行测试系统的标定工作,缩短了标定周期,有效避免了环境发生变化时引起的标准漏孔的漏率偏差,提高了测试系统标定的准确性。

    航天器GFDV型加排阀精确限位开关装置

    公开(公告)号:CN108105460B

    公开(公告)日:2019-05-28

    申请号:CN201711382463.9

    申请日:2017-12-20

    Abstract: 本发明公开了一种航天器GFDV型加排阀精确限位开关装置,限位装置具有主动限位和被动限位两部分,主动限位为整体装置的前端,与后端旋转螺帽相连接,主动限位端为圆柱形圈环,通过开关端后使其后端旋转螺帽螺纹与开关端外螺纹接触旋转带劲,旋转螺帽旋入使主动挡圈顶触到阀体上六方面后停止,起到限位作用;被动限位装于整体装置的后端,当整体限位旋紧到到位后,起到了第二到限位功能。本发明装饰小巧轻便,功能性强、操作简单快捷,能起到精确限位的作用。

    具有自包覆探头及入口压力可调节的多功能检漏吸枪

    公开(公告)号:CN109724754A

    公开(公告)日:2019-05-07

    申请号:CN201811580881.3

    申请日:2018-12-24

    Abstract: 本发明公开了一种具有自包覆探头及入口压力可调节的多功能检漏吸枪,包括吸枪主体、吸枪杆、可调节流量阀、吸枪软管、吸枪手柄,探头控制机构以及自包覆探头,其特征在于,自包覆探头通过位于吸枪手柄前方的探头控制机构,实现对待检点的包覆和检漏;可调节流量阀通过旋转带有刻度的调节旋钮精准调节吸枪入口压力。本发明可方便快捷地实现对焊点进行单点检漏测试,规避操作失误与多余物控制的风险并能实现对吸枪入口压力的精准控制,避免盲操作导致力度过大大气猛然进入检漏仪损伤仪器。

    具有自包覆探头及入口压力可调节的多功能检漏吸枪

    公开(公告)号:CN109724754B

    公开(公告)日:2020-05-26

    申请号:CN201811580881.3

    申请日:2018-12-24

    Abstract: 本发明公开了一种具有自包覆探头及入口压力可调节的多功能检漏吸枪,包括吸枪主体、吸枪杆、可调节流量阀、吸枪软管、吸枪手柄,探头控制机构以及自包覆探头,其特征在于,自包覆探头通过位于吸枪手柄前方的探头控制机构,实现对待检点的包覆和检漏;可调节流量阀通过旋转带有刻度的调节旋钮精准调节吸枪入口压力。本发明可方便快捷地实现对焊点进行单点检漏测试,规避操作失误与多余物控制的风险并能实现对吸枪入口压力的精准控制,避免盲操作导致力度过大大气猛然进入检漏仪损伤仪器。

    卫星总漏率测试用取放样装置及取放样标定方法

    公开(公告)号:CN104089745B

    公开(公告)日:2017-06-16

    申请号:CN201410369471.X

    申请日:2014-07-30

    Abstract: 本发明公开了一种卫星总漏率测试过程中使用的取放样装置主要包括具有固定容积的腔体、腔体上方连通设置有十字相交的横管和纵管,横管与纵管的内部呈十字连通结构,横管两端分别用作总漏率测试用的气体取样口和气体放样口,纵管顶部设置有开关阀门以分别针对取样和放样过程对腔体内的气体进出横管进行控制、开关阀门与纵管的内侧设置有0型密封圈以防止气体在取放样过程中从纵管上端逸出。本发明还公开了一种利用该装置取放样的方法。该方法与现有技术相比,可实现在卫星总漏率测试现场快速进行测试系统的标定工作,缩短了标定周期,有效避免了环境发生变化时引起的标准漏孔的漏率偏差,提高了测试系统标定的准确性。

    航天器总漏率测试用检漏取放样循环系统控制台

    公开(公告)号:CN104477403B

    公开(公告)日:2016-08-17

    申请号:CN201410664747.7

    申请日:2014-11-19

    Abstract: 本发明公开了一种航天器总漏率测试用检漏取放样循环系统控制台,取放样循环系统控制台的长方体机箱由可拆卸的上盖和下底两部分组成,上盖部分设置有圆形凹槽用于安装标准容积,上盖侧壁上设置有取样口,通过取样工装与取样阀连通,取样阀与放样阀在上盖部分相对设置并分别与标准容积连通,取样阀、放样阀通过三通与下底部分中的样气泵连接,下底部分的底面上并列设置标气泵和样气泵,样气泵和表气泵分别通过变压器对其进行供电,下底部分的外侧壁上设置有标气、样气管路连接进出口,分别通过管路与样气泵和标气泵连通。

    航天器在轨检漏用高精度双通道测温电路

    公开(公告)号:CN104374488A

    公开(公告)日:2015-02-25

    申请号:CN201410658014.2

    申请日:2014-11-17

    Abstract: 本发明公开一种可以嵌入航天器在轨检漏仪器内对检测结果进行温度补偿的双通道测温电路,包括四线制热敏电阻,微电流恒流源,高精度标准电阻,24位AD采样芯片,DSP核心处理器和液晶显示等部分组成;DSP核心处理器与点阵液晶屏电连接,处理器分别对称地电连接两路的测温电路,每个测温回路包括微电流恒流源、高精度标准电阻、带有一路屏蔽地线的四线制热敏电阻传感器和24位AD采样部件,恒流源为串联的高精度标准电阻和四线制热敏电阻传感器供电,通过采样部件实现高精度标准电阻和热敏电阻传感器的分压比率的测量,处理器分别与恒流源和采样部件电连接并利用热敏电阻阻值与温度的关系,采用对数拟合方法进行数据处理,得到温度,实现高精度的双通道测温。

    真空标定用材料放气氛围供气装置及其使用方法

    公开(公告)号:CN117705639A

    公开(公告)日:2024-03-15

    申请号:CN202410064493.9

    申请日:2024-01-16

    Abstract: 本发明提供了一种真空标定用材料放气氛围供气装置,包括有:校准室,内置有参考真空规和被标定真空规;样品室,与校准室之间通过一样品气调节阀门连接,且内置有样品舟、全量程真空规以及第一四极质谱仪;第一抽真空模块,与样品室连接以对样品室抽真空;样品室冲洗阀,与样品室连接,用于使高纯氮气输送至样品室冲洗样品;第二抽真空模块,与校准室连接,用于运作以使校准室调节至预设真空度;真空标定单元,用于根据参考真空规和被标定真空规的测量数据,计算出被标定真空规对样品的材料放气氛围的转换系数。还提供了真空标定用材料放气氛围供气装置的使用方法。借此,本发明能提供材料放气氛围,并能有效降低材料放气氛围下真空度测量误差。

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