发明授权
- 专利标题: X射线束流强度监控装置和X射线检查系统
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申请号: CN201410851366.X申请日: 2014-12-31
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公开(公告)号: CN104516010B公开(公告)日: 2018-12-11
- 发明人: 康克军 , 李树伟 , 张清军 , 李元景 , 李玉兰 , 赵自然 , 刘以农 , 刘耀红 , 朱维彬 , 赵晓琳 , 何会绍
- 申请人: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区清华园
- 专利权人: 清华大学,同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人: 清华大学,同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区清华园
- 代理机构: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
- 代理商 刘志强
- 主分类号: G01T1/29
- IPC分类号: G01T1/29 ; G01T1/202
摘要:
本发明公开了一种X射线束流强度监控装置和X射线检查系统。X射线束流强度监控装置包括强度探测模块和数据处理模块,强度探测模块用于接受X射线束流的照射并发出探测信号,数据处理模块与强度探测模块耦合以接收探测信号并输出X射线束流强度监控信号,其中,X射线束流强度监控信号包括X射线束流的剂量监控信号和X射线束流的亮度校正信号。该X射线束流强度监控装置可以同时进行剂量监控和亮度监控,提升了X射线束流强度监控装置的使用效率。
公开/授权文献
- CN104516010A X射线束流强度监控装置和X射线检查系统 公开/授权日:2015-04-15