-
公开(公告)号：CN105093255A
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201510568491.4
申请日：2015-09-09
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01T1/20
摘要： 本发明提出一种射线探测方法、装置、探测器组件和射线探测器，涉及辐射成像领域。其中，本发明的射线探测方法包括：获取探测器组件中各个转换层的基本探测数据，其中，探测器组件包括多个层叠排列的转换层，每个转换层用于探测预定探测范围的能量；基于多个转换层的基本探测数据的组合获取预定探测等级的射线探测数据。通过这样的方法，能够根据探测等级的需要，基于多个转换层的基本探测数据，根据符合预定探测等级的转换层的基本探测数据获取预定探测等级的射线探测数据，从而实现了根据探测的需要灵活探测不同能量等级的能量。
-
公开(公告)号：CN101629917B
公开(公告)日：2011-09-14
申请号：CN200810116760.3
申请日：2008-07-16
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01N23/087 , G01T1/22
摘要： 本发明公开了一种测量物质有效原子序数的装置，所述装置包括：X射线源，向被测物体发射不同能量的X射线；切伦科夫探测器，接收通过所述被测物体的X射线，并生成第一电信号；能量沉积类探测器，接收通过所述被测物体的X射线，并生成第二电信号；处理器，用于根据所述第一电信号和第二电信号，获取所述被测物体的有效原子序数。本发明还公开了一种测量物质有效原子序数的方法。本发明通过将切伦科夫探测器和能量沉积类探测器相结合测量物质有效原子序数的方法，相对于能量较低的X的光子，能量较高的X射线光子在切伦科夫探测器探测时更容易形成较大的信号，从而增强了获取的物质有效原子序数的分辨效果。
-
公开(公告)号：CN1964593B
公开(公告)日：2011-02-09
申请号：CN200510086817.6
申请日：2005-11-09
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
摘要： 本发明涉及辐射检测技术领域，具体涉及一种利用数据获取和控制模块电路控制辐射成像中探测器的系统。本发明公开的一种辐射成像用数据获取和控制的系统，包括图像检查分系统，加速器，数字化探测器模块电路，以太网，数据获取和控制模块电路，其中，数据获取和控制模块电路包括：数据和控制信号差分电路，数据和控制信号缓冲电路，数据存储和控制时序产生电路，数据存储电路，网络单片机，加速器同步脉冲隔离驱动电路，加速器束流强度信息处理电路，稳压电源电路。
-
公开(公告)号：CN101577284A
公开(公告)日：2009-11-11
申请号：CN200810106279.6
申请日：2008-05-09
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号： H01L27/144 , H01L27/146 , G01T1/24 , H04N5/32
CPC分类号： G01T1/242 , H01L31/085
摘要： 本申请公开了一种用于测量辐射的半导体探测器和成像装置，其中半导体探测器包括：半导体介质，该半导体介质可以吸收待测量的至少一个能量段的辐射；阳极电极，该阳极电极设置在半导体介质的一个表面上；阴极电极，该阴极电极设置在与所述一个表面相对的半导体介质的另一个表面上；以及信号处理电路，该信号处理电路与所述阳极电极和阴极电极连接，并将检测到的信号处理为表示辐射的能量沉积量的数值，其中，所述半导体介质接收沿着平行于电极平面的方向入射的辐射，并且，所述阳极电极和所述阴极电极沿着辐射的入射方向分成多个间隔开的子电极对，分别用于检测相应能量段的辐射的能量沉积量。
-
公开(公告)号：CN108398445B
公开(公告)日：2024-06-04
申请号：CN201810437654.9
申请日：2018-05-09
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01N23/04
摘要： 本发明公开了一种探测器模块结构，包括：探测器组件，包括探测器和与探测器连接的信号输出连接件；数据采集电路板，包括板体和信号输入连接件，板体的第一表面具有信号输入区，信号输入连接件设置于信号输入区，信号输出连接件与信号输入连接件连接；第一封盖，贴合于板体的与第一表面相对的第二表面；探测器封罩，罩设于探测器组件和信号输入连接件外；第一连接件，连接探测器封罩、板体和第一封盖；和第一密封元件，设置于探测器封罩与第一表面之间，用于密封探测器封罩和信号输入区所形成的区域。本发明可以提高探测器模块结构的环境适应性能和使用寿命。
-
公开(公告)号：CN112114347A
公开(公告)日：2020-12-22
申请号：CN201910546489.5
申请日：2019-06-21
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01T1/202
摘要： 本发明公开一种用于制造闪烁体探测器的设备。闪烁体探测器包括：闪烁体；反射层，其在闪烁体的上方和侧方包围闪烁体；以及光探测器，其设置在闪烁体和反射层的下方，并且具有灵敏面和信号读出电路。所述设备包括：闪烁体工装，其适于夹持由反射层和闪烁体构成的组件；以及光探测器工装，其适于支撑所述光探测器。所述设备还包括光源(例如X光机)和位移装置，所述位移装置适于夹持闪烁体工装并且在动力的驱动下移动闪烁体工装，以使闪烁体的光输出面对准光探测器的灵敏面。本发明还公开一种使用所述设备制造闪烁体探测器的方法。通过采用上述技术方案，本发明实现了小尺寸闪烁体探测器中的闪烁体的光输出面与光探测器的灵敏面之间的精确对准。
-
公开(公告)号：CN104360375B
公开(公告)日：2018-04-03
申请号：CN201410743721.1
申请日：2014-12-08
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
摘要： 本发明的便携式低温半导体探测器装置具备：探测器晶体；高气压晶体保护室，在内部充满高压超纯惰性气体并容纳有所述探测器晶体；真空室，内部为真空环境并容纳有所述高气压晶体保护室；制冷装置，包括制冷机和与所述制冷机相连的制冷机冷指，用于冷却所述探测器晶体。
-
公开(公告)号：CN101629917A
公开(公告)日：2010-01-20
申请号：CN200810116760.3
申请日：2008-07-16
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01N23/087
摘要： 本发明公开了一种测量物质有效原子序数的装置，所述装置包括：X射线源，向被测物体发射不同能量的X射线；切伦科夫探测器，接收通过所述被测物体的X射线，并生成第一电信号；能量沉积类探测器，接收通过所述被测物体的X射线，并生成第二电信号；处理器，用于根据所述第一电信号和第二电信号，获取所述被测物体的有效原子序数。本发明还公开了一种测量物质有效原子序数的方法。本发明通过将切伦科夫探测器和能量沉积类探测器相结合测量物质有效原子序数的方法，相对于能量较低的X的光子，能量较高的X射线光子在切伦科夫探测器探测时更容易形成较大的信号，从而增强了获取的物质有效原子序数的分辨效果。
-
公开(公告)号：CN104515781B
公开(公告)日：2018-01-23
申请号：CN201410851416.4
申请日：2014-12-31
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01N23/02
摘要： 本发明公开了一种X射线检查系统，包括X射线发射装置、探测器阵列和X射线束流强度监控装置，X射线发射装置发出的X射线束流包括照射于探测器阵列上的工作束流和照射于探测器阵列之外的冗余束流，X射线束流强度监控装置包括强度探测模块和数据处理模块，强度探测模块设置于X射线发射装置和探测器阵列之间以接受冗余束流的照射并发出探测信号，数据处理模块与强度探测模块耦合以接收探测信号并输出X射线束流强度监控信号。该X射线检查系统的强度探测模块利用的是X射线束流的冗余束流，强度探测模块基本不受X射线发射装置和被检物体的影响，从而可使X射线束流强度的监控结果更加准确可靠。
-
公开(公告)号：CN104360375A
公开(公告)日：2015-02-18
申请号：CN201410743721.1
申请日：2014-12-08
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
摘要： 本发明的便携式低温半导体探测器装置具备：探测器晶体；高气压晶体保护室，在内部充满高压超纯惰性气体并容纳有所述探测器晶体；真空室，内部为真空环境并容纳有所述高气压晶体保护室；制冷装置，包括制冷机和与所述制冷机相连的制冷机冷指，用于冷却所述探测器晶体。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
搜索结果
52 条记录 (耗时 0.038 秒)