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公开(公告)号：CN107860618B
公开(公告)日：2023-11-17
申请号：CN201711429544.X
申请日：2017-12-26
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01N1/22
摘要： 本发明涉及安全检测技术领域，特别涉及一种采集进样装置和检测系统。本发明所提供的采集进样装置，包括用于采集样品的采样装置和用于对采样装置所采集的样品进行提取并将所提取的样品送至检测设备的半透膜装置，采样装置具有导气腔，导气腔用于引导携带样品的气流流向半透膜装置，半透膜装置具有半透膜，半透膜设置在采样装置的外部。在本发明中，半透膜的大小不再受到采样装置的限制，因此，可以降低增大半透膜面积的难度。
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公开(公告)号：CN115901856A
公开(公告)日：2023-04-04
申请号：CN202211688289.1
申请日：2022-12-27
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01N25/44
摘要： 本公开提供了一种热量检测设备，应用于能源技术领域，热量检测设备包括燃烧装置、引燃激光器、温度测量计和控制模块，所述燃烧装置具有燃烧腔，所述燃烧腔开设有照射口，所述燃烧腔内适于放置承载煤样的坩埚；所述引燃激光器设于所述燃烧装置的上方，通过所述燃烧腔的照射口向所述燃烧腔内的煤样发射激光以引燃该煤样；所述温度测量计用于探测与所述燃烧腔内的热量进行换热的换热介质的温度，并生成温度信号；所述控制模块与所述温度测量计通讯连接以接收所述温度信号。所述热量检测设备具有便于实验和结果准确的优点。
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公开(公告)号：CN106596597B
公开(公告)日：2019-10-11
申请号：CN201611143083.5
申请日：2016-12-08
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01N23/04
摘要： 本发明提出一种辐射探测装置、方法以及数据处理方法和处理器，涉及辐射探测技术领域。其中，本发明的一种辐射探测装置包括：射线探测器；与射线探测器相连接的高速模数转化器ADC；和与高速ADC连接的数据处理器；其中，射线探测器把透射X射线与闪烁体作用后产生的光信号转化为电信号；高速ADC通过电信号波形采样获取波形数据；数据处理器根据波形数据确定单光子信号个数，进而确定采用积分信号和/或计数信号进行成像。这样的装置能够利用探测器的单光子探测能力根据波形数据确定单光子信号个数，进而判断采用波形数据的积分信号和/或计数信号进行成像，从而提高被测物体的辐射探测成像质量，提升系统的穿透力指标和物质分辨能力。
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公开(公告)号：CN115824880A
公开(公告)日：2023-03-21
申请号：CN202211688287.2
申请日：2022-12-27
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
摘要： 本公开提供了一种煤质分析系统，应用于能源技术领域，包括M个加热炉、热量检测设备和控制装置，每个加热炉包括炉体、加热装置和质量测定装置，炉体具有加热腔，加热腔内适于放置承载煤样的坩埚，加热腔开设有通气口，气体通过通气口进入加热腔；加热装置设于加热腔内给煤样加热；质量测定装置的部分伸入加热腔实时测量承载煤样的坩埚的质量并生成质量信号。热量检测设备包括燃烧装置和温度测量计，燃烧装置的燃烧腔内适于放置承载煤样的坩埚；温度测量计用于探测换热介质的温度，并生成温度信号，控制装置与质量测定装置和温度测量计均通讯连接以接收质量信号和温度信号。煤质分析系统具有集成度高便利性好，使用过程中节省人力物力的优点。
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公开(公告)号：CN107860618A
公开(公告)日：2018-03-30
申请号：CN201711429544.X
申请日：2017-12-26
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01N1/22
CPC分类号： G01N1/2205
摘要： 本发明涉及安全检测技术领域，特别涉及一种采集进样装置和检测系统。本发明所提供的采集进样装置，包括用于采集样品的采样装置和用于对采样装置所采集的样品进行提取并将所提取的样品送至检测设备的半透膜装置，采样装置具有导气腔，导气腔用于引导携带样品的气流流向半透膜装置，半透膜装置具有半透膜，半透膜设置在采样装置的外部。在本发明中，半透膜的大小不再受到采样装置的限制，因此，可以降低增大半透膜面积的难度。
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公开(公告)号：CN115839972A
公开(公告)日：2023-03-24
申请号：CN202211688286.8
申请日：2022-12-27
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01N25/22
摘要： 本公开提供了一种引燃能量的计量装置和热量检测设备，应用于能源技术领域，热量检测设备包括引燃激光器和玻璃盖板，引燃激光器发射的激光透过倾斜设置的玻璃盖板照射于煤样以引燃该煤样，引燃能量的计量装置包括探测器、衰减器和带有小孔的挡板，探测器与玻璃盖板水平，且与玻璃盖板的照射面相对设置；衰减器设于玻璃盖板与探测器之间；挡板设于玻璃盖板与探测器之间，玻璃盖板、衰减器、挡板和探测器依次设置。所述引燃能量的计量装置具有准确计量引燃能量的优点。
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公开(公告)号：CN104516010B
公开(公告)日：2018-12-11
申请号：CN201410851366.X
申请日：2014-12-31
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
摘要： 本发明公开了一种X射线束流强度监控装置和X射线检查系统。X射线束流强度监控装置包括强度探测模块和数据处理模块，强度探测模块用于接受X射线束流的照射并发出探测信号，数据处理模块与强度探测模块耦合以接收探测信号并输出X射线束流强度监控信号，其中，X射线束流强度监控信号包括X射线束流的剂量监控信号和X射线束流的亮度校正信号。该X射线束流强度监控装置可以同时进行剂量监控和亮度监控，提升了X射线束流强度监控装置的使用效率。
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公开(公告)号：CN106596597A
公开(公告)日：2017-04-26
申请号：CN201611143083.5
申请日：2016-12-08
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01N23/04
摘要： 本发明提出一种辐射探测装置、方法以及数据处理方法和处理器，涉及辐射探测技术领域。其中，本发明的一种辐射探测装置包括：射线探测器；与射线探测器相连接的高速模数转化器ADC；和与高速ADC连接的数据处理器；其中，射线探测器把透射X射线与闪烁体作用后产生的光信号转化为电信号；高速ADC通过电信号波形采样获取波形数据；数据处理器根据波形数据确定单光子信号个数，进而确定采用积分信号和/或计数信号进行成像。这样的装置能够利用探测器的单光子探测能力根据波形数据确定单光子信号个数，进而判断采用波形数据的积分信号和/或计数信号进行成像，从而提高被测物体的辐射探测成像质量，提升系统的穿透力指标和物质分辨能力。
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公开(公告)号：CN104516010A
公开(公告)日：2015-04-15
申请号：CN201410851366.X
申请日：2014-12-31
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
摘要： 本发明公开了一种X射线束流强度监控装置和X射线检查系统。X射线束流强度监控装置包括强度探测模块和数据处理模块，强度探测模块用于接受X射线束流的照射并发出探测信号，数据处理模块与强度探测模块耦合以接收探测信号并输出X射线束流强度监控信号，其中，X射线束流强度监控信号包括X射线束流的剂量监控信号和X射线束流的亮度校正信号。该X射线束流强度监控装置可以同时进行剂量监控和亮度监控，提升了X射线束流强度监控装置的使用效率。
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公开(公告)号：CN104515781A
公开(公告)日：2015-04-15
申请号：CN201410851416.4
申请日：2014-12-31
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01N23/02
摘要： 本发明公开了一种X射线检查系统，包括X射线发射装置、探测器阵列和X射线束流强度监控装置，X射线发射装置发出的X射线束流包括照射于探测器阵列上的工作束流和照射于探测器阵列之外的冗余束流，X射线束流强度监控装置包括强度探测模块和数据处理模块，强度探测模块设置于X射线发射装置和探测器阵列之间以接受冗余束流的照射并发出探测信号，数据处理模块与强度探测模块耦合以接收探测信号并输出X射线束流强度监控信号。该X射线检查系统的强度探测模块利用的是X射线束流的冗余束流，强度探测模块基本不受X射线发射装置和被检物体的影响，从而可使X射线束流强度的监控结果更加准确可靠。
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