- 专利标题: 具有成分坡度变化的半导体沟道的非平面Ⅲ‑N晶体管
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申请号: CN201380060881.X申请日: 2013-06-24
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公开(公告)号: CN104813477B公开(公告)日: 2017-10-03
- 发明人: H·W·田 , S·达斯古普塔 , M·拉多萨夫列维 , B·舒-金 , S·H·宋 , S·K·加德纳 , R·S·周
- 申请人: 英特尔公司
- 申请人地址: 美国加利福尼亚
- 专利权人: 英特尔公司
- 当前专利权人: 英特尔公司
- 当前专利权人地址: 美国加利福尼亚
- 代理机构: 永新专利商标代理有限公司
- 代理商 林金朝; 王英
- 优先权: 13/725,546 20121221 US
- 国际申请: PCT/US2013/047432 2013.06.24
- 国际公布: WO2014/099003 EN 2014.06.26
- 进入国家日期: 2015-05-21
- 主分类号: H01L29/78
- IPC分类号: H01L29/78 ; H01L21/336
摘要:
本发明描述了具有成分坡度变化的半导体沟道的非平面Ⅲ‑N晶体管。Ⅲ‑N半导体沟道的成分在过渡层与Ⅲ‑N极化层之间发生坡度变化。在实施例中,栅极堆叠体沉积在包括坡度变化的Ⅲ‑N半导体沟道的鳍状物侧壁之上,其允许响应于栅极偏置电压而在与至少两个侧壁表面相邻的Ⅲ‑N半导体沟道中形成输运沟道。在实施例中,沉积栅极堆叠体,其完全包围包括Ⅲ‑N半导体沟道的纳米线,所述Ⅲ‑N半导体沟道的成分发生坡度变化,使得能够响应于栅极偏置电压而在与极化层和过渡层二者相邻的Ⅲ‑N半导体沟道中形成输运沟道。
公开/授权文献
- CN104813477A 具有成分坡度变化的半导体沟道的非平面Ⅲ-N晶体管 公开/授权日:2015-07-29
IPC分类: