发明授权
- 专利标题: 半导体结构及其制造方法
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申请号: CN201410077545.2申请日: 2014-03-05
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公开(公告)号: CN104900698B公开(公告)日: 2018-05-29
- 发明人: 李明东 , 林正基 , 徐志嘉 , 陈建铨 , 连士进 , 吴锡垣
- 申请人: 旺宏电子股份有限公司
- 申请人地址: 中国台湾新竹科学工业园区力行路16号
- 专利权人: 旺宏电子股份有限公司
- 当前专利权人: 旺宏电子股份有限公司
- 当前专利权人地址: 中国台湾新竹科学工业园区力行路16号
- 代理机构: 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理商 任岩
- 主分类号: H01L29/78
- IPC分类号: H01L29/78 ; H01L29/40 ; H01L21/336 ; H01L21/28
摘要:
本发明公开了一种半导体结构及其制造方法。该半导体结构包括一基板、一第一阱(well)、一第一重掺杂区(heavily doping region)、一场氧化层、一第一介电层以及一导电层。第一阱设置于基板上,第一重掺杂区设置于第一阱内。场氧化层设置于第一阱上且邻接于第一重掺杂区。第一介电层设置于场氧化层上并覆盖(covering)场氧化层。导电层设置于第一介电层上。第一阱及第一重掺杂区具有一第一掺杂型态。
公开/授权文献
- CN104900698A 半导体结构及其制造方法 公开/授权日:2015-09-09
IPC分类: