发明授权
- 专利标题: 表面形状测量方法以及其装置
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申请号: CN201480027013.6申请日: 2014-03-10
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公开(公告)号: CN105209852B公开(公告)日: 2018-12-14
- 发明人: 松井繁 , 小野田有吾
- 申请人: 株式会社日立高新技术
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 株式会社日立高新技术
- 当前专利权人: 株式会社日立高新技术
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 北京银龙知识产权代理有限公司
- 代理商 张敬强; 严星铁
- 优先权: 2013-101792 2013.05.14 JP
- 国际申请: PCT/JP2014/056092 2014.03.10
- 国际公布: WO2014/185133 JA 2014.11.20
- 进入国家日期: 2015-11-12
- 主分类号: G01B11/24
- IPC分类号: G01B11/24
摘要:
本发明提供一种能够非破坏、非接触、高精度、宽倾斜角动态范围地测量任意的被检查物体的表面形状的技术。在使用了双光束干涉仪的白光干涉法中,构成为使参照平面的表面方向相对于其入射光轴变化,一边通过使上述参照平面的表面方向相对于被检查面上的任意位置的局部表面方向相对地变化,一边获取多个由来自上述被检查面的反射光和来自上述参照平面的反射光的干涉而生成的干涉条纹,并根据这些干涉条纹求出上述被检查面上的局部表面方向,由此来测量上述被检查面的表面形状。
公开/授权文献
- CN105209852A 表面形状测量方法以及其装置 公开/授权日:2015-12-30