发明公开
- 专利标题: 半导体探测器的信号处理方法及装置
- 专利标题(英): Signal processing method of semiconductor detector and device
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申请号: CN201510417228.5申请日: 2015-07-15
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公开(公告)号: CN105242300A公开(公告)日: 2016-01-13
- 发明人: 张岚 , 李玉兰 , 李元景 , 傅楗强 , 杜迎帅 , 张韡 , 马旭明 , 李军
- 申请人: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区清华园北京100084-82信箱
- 专利权人: 清华大学,同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人: 清华大学,同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区清华园北京100084-82信箱
- 代理机构: 北京路浩知识产权代理有限公司
- 代理商 李相雨
- 主分类号: G01T1/24
- IPC分类号: G01T1/24
摘要:
本发明提供半导体探测器的信号处理方法和装置,包括:获取所述半导体探测器阳极信号和阴极信号时间差与阳极信号幅度之间的关系;根据所述半导体探测器阳极信号和阴极信号时间差与阳极信号幅度之间的关系得到最佳数据筛选区间,所述最佳数据筛选区间为阳极信号和阴极信号时间差大于50ns的区间;在半导体探测器数据采集时,根据所述最佳数据筛选区间对所采集数据进行筛选和处理。本发明更好地克服了探测器晶体的固有缺陷,降低了本底噪声的影响,进一步地提高了碲锌镉探测器在室温下的能量分辨率,改善了峰康比。
公开/授权文献
- CN105242300B 半导体探测器的信号处理方法及装置 公开/授权日:2019-01-11