Invention Publication
- Patent Title: 半导体器件及其制造方法
- Patent Title (English): Semiconductor device and manufacturing method thereof
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Application No.: CN201410311783.5Application Date: 2014-07-02
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Publication No.: CN105336614APublication Date: 2016-02-17
- Inventor: 肖德元
- Applicant: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
- Applicant Address: 上海市浦东新区张江路18号
- Assignee: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
- Current Assignee: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
- Current Assignee Address: 上海市浦东新区张江路18号
- Agency: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
- Agent 刘剑波
- Main IPC: H01L21/336
- IPC: H01L21/336 ; H01L21/02 ; H01L29/78 ; H01L29/06

Abstract:
本发明公开了一种半导体器件及其制造方法。其中在制造半导体器件的方法中,提供衬底,其中在衬底中包括腔体阵列,所述腔体的每个侧面方向分别与晶体的一个侧向晶面方向一致;在衬底表面上形成缓冲层,其中缓冲层的材料填充所述腔体;在缓冲层的表面上形成鳍片式沟道层。由于独立生长的晶体都产生了侧向晶面,从而位错缺陷密度显著降低,可以极大地提高器件的性能。
Public/Granted literature
- CN105336614B 半导体器件及其制造方法 Public/Granted day:2019-03-26
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IPC分类: