半导体器件及其制造方法
Abstract:
本发明公开了一种半导体器件及其制造方法。其中在制造半导体器件的方法中,提供衬底,其中在衬底中包括腔体阵列,所述腔体的每个侧面方向分别与晶体的一个侧向晶面方向一致;在衬底表面上形成缓冲层,其中缓冲层的材料填充所述腔体;在缓冲层的表面上形成鳍片式沟道层。由于独立生长的晶体都产生了侧向晶面,从而位错缺陷密度显著降低,可以极大地提高器件的性能。
Public/Granted literature
Patent Agency Ranking
0/0