Invention Publication
- Patent Title: 用于减少背面沉积和减少基片边缘处的厚度变化的系统和方法
- Patent Title (English): SYSTEMS AND METHODS FOR REDUCING BACKSIDE DEPOSITION AND MITIGATING THICKNESS CHANGES AT SUBSTRATE EDGES
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Application No.: CN201510582177.1Application Date: 2015-09-14
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Publication No.: CN105420685APublication Date: 2016-03-23
- Inventor: 赛沙·瓦拉达拉简 , 尚卡·斯瓦米纳坦 , 桑格伦特·桑普伦格 , 弗兰克·帕斯夸里 , 泰德·明歇尔 , 阿德里安·拉瓦伊 , 穆罕默德·萨布里 , 科迪·巴尼特
- Applicant: 朗姆研究公司
- Applicant Address: 美国加利福尼亚州
- Assignee: 朗姆研究公司
- Current Assignee: 朗姆研究公司
- Current Assignee Address: 美国加利福尼亚州
- Agency: 上海胜康律师事务所
- Agent 樊英如; 李献忠
- Priority: 14/485,142 2014.09.12 US
- Main IPC: C23C16/44
- IPC: C23C16/44 ; C23C16/455 ; C23C16/54 ; H01L21/67

Abstract:
用于在基片上沉积膜的基片处理系统包括限定了反应体积并包括用于支撑基片的基片支撑件的处理室。气体输送系统被配置为将处理气体引入处理室的反应体积。等离子体发生器被配置为有选择地生成在反应体积内的RF等离子体。夹紧系统被配置为在膜的沉积期间将基片夹紧到基片支撑件上。背面净化系统被配置为在膜的沉积期间将反应气体供应到基片的背面边缘,以净化背面边缘。
Public/Granted literature
- CN105420685B 用于减少背面沉积和减少基片边缘处的厚度变化的系统和方法 Public/Granted day:2018-06-15
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IPC分类: