- 专利标题: 临时半导体结构键合方法和相关的键合半导体结构
- 专利标题(英): Temporary semiconductor structure bonding methods and related bonded semiconductor structures
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申请号: CN201510873777.3申请日: 2011-07-19
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公开(公告)号: CN105489512A公开(公告)日: 2016-04-13
- 发明人: 玛丽亚姆·萨达卡 , 约努茨·拉杜
- 申请人: 硅绝缘体技术有限公司
- 申请人地址: 法国伯涅尼
- 专利权人: 硅绝缘体技术有限公司
- 当前专利权人: 硅绝缘体技术有限公司
- 当前专利权人地址: 法国伯涅尼
- 代理机构: 北京三友知识产权代理有限公司
- 代理商 李辉; 张旭东
- 优先权: 1056122 2010.07.26 FR; 12/839,203 2010.07.19 US
- 分案原申请号: 201110201962X 2011.07.19
- 主分类号: H01L21/60
- IPC分类号: H01L21/60 ; H01L21/768 ; H01L23/485 ; H01L23/48
摘要:
本发明涉及临时半导体结构键合方法和相关的键合半导体结构。制造半导体结构的方法包括以下步骤:将原子组分注入承载裸片或晶片中以在该承载裸片或晶片内形成弱化区域,并将该承载裸片或晶片键合到半导体结构。在利用承载裸片或晶片来操作半导体结构的同时,可以该处理半导体结构。该半导体结构可以键合到另一个半导体结构,并且可以沿承载裸片或晶片中的弱化区域分割承载裸片或晶片。利用这样的方法制造半导体结构。
公开/授权文献
- CN105489512B 临时半导体结构键合方法和相关的键合半导体结构 公开/授权日:2018-01-30
IPC分类: