Invention Grant
- Patent Title: 带碳化硅膜基板及其制造方法、以及半导体装置
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Application No.: CN201510729358.2Application Date: 2015-10-30
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Publication No.: CN105575770BPublication Date: 2019-09-03
- Inventor: 渡边幸宗
- Applicant: 精工爱普生株式会社
- Applicant Address: 日本东京
- Assignee: 精工爱普生株式会社
- Current Assignee: 精工爱普生株式会社
- Current Assignee Address: 日本东京
- Agency: 北京康信知识产权代理有限责任公司
- Agent 田喜庆; 吴孟秋
- Priority: 2014-223558 2014.10.31 JP
- Main IPC: H01L21/02
- IPC: H01L21/02 ; H01L29/06 ; H01L29/12
Abstract:
本发明提供带碳化硅膜基板及其制造方法、以及半导体装置。带碳化硅膜基板层叠在Si基板上、并具备3C‑SiC膜,该制造方法能制造该带碳化硅膜基板,半导体装置具备带碳化硅膜基板。本发明的带碳化硅膜基板具有Si基板、和层叠于Si基板上的SiC膜及掩膜,SiC膜具有设于Si基板上侧的第一SiC膜、和设于第一SiC膜上侧的第二SiC膜,掩膜具有设于Si基板上的、具有开口部(第一开口部)的第一掩膜、和设于第一SiC膜上的、具备开口部(第二开口部)的第二掩膜。开口部的宽度W1[μm]和第一掩膜的厚度T1[μm]满足T1
Public/Granted literature
- CN105575770A 带碳化硅膜基板及其制造方法、以及半导体装置 Public/Granted day:2016-05-11
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IPC分类: