一种基于多晶面Ir‑Pd纳米粒子体系掺杂的TiO<base:Sub>2</base:Sub>薄膜紫外探测器及其制备方法
摘要:
一种基于多晶面Ir‑Pd纳米粒子体系掺杂的TiO2薄膜紫外探测器及其制备方法,属于半导体紫外光电探测技术领域。按紫外光线入射方向,从下至上依次为:石英片衬底、多晶面Ir‑Pd纳米粒子体系掺杂的TiO2薄膜、通过磁控溅射方法制备的Au叉指电极。多晶面Ir‑Pd纳米粒子体系掺杂的TiO2薄膜的厚度为80~110nm;在该薄膜中,Ti与Ir的摩尔比为1:0.0005~0.002,Ti与Pd的摩尔比为1:0.0005~0.002,Ir‑Pd纳米粒子体系中的Ir纳米粒子和Pd纳米粒子均为多晶面结构。制作多晶面Ir‑Pd纳米粒子体系掺杂的TiO2薄膜材料,可以在Ir,Pd纳米粒子和TiO2三种材料优良性质的基础之上,通过调节掺杂Ir,Pd纳米粒子的量,更好的提升复合材料性能,从而提高器件在紫外探测领域的能力,使新型紫外探测器具有广阔的应用前景。
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