发明公开
- 专利标题: 具有双边测量能力的掠入射干涉仪
- 专利标题(英): Grazing-incidence interferometer with dual-side measurement capability
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申请号: CN201480057206.6申请日: 2014-08-14
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公开(公告)号: CN106415191A公开(公告)日: 2017-02-15
- 发明人: J·M·科布 , T·J·邓恩 , J·W·弗兰克维奇
- 申请人: 康宁股份有限公司
- 申请人地址: 美国纽约州
- 专利权人: 康宁股份有限公司
- 当前专利权人: 康宁股份有限公司
- 当前专利权人地址: 美国纽约州
- 代理机构: 上海专利商标事务所有限公司
- 代理商 侯颖媖
- 优先权: 61/867,223 2013.08.19 US
- 国际申请: PCT/US2014/051002 2014.08.14
- 国际公布: WO2015/026616 EN 2015.02.26
- 进入国家日期: 2016-04-18
- 主分类号: G01B9/02
- IPC分类号: G01B9/02 ; G01B11/06
摘要:
掠入射干涉仪包括隔开的第一衍射光学元件和第二衍射光学元件,在其之间设置大体上平面的物体。第一衍射光学元件形成剪切的第一衍射阶光束,剪切的第一衍射阶光束以掠入射角从物体的相反的第一表面和第二表面反射,而零衍射阶光束未反射。第二衍射光学元件将未反射的零衍射阶光束和剪切的反射光束结合以形成准直的结合光束。1X双远心中继系统将结合光束中继到折叠光学系统,所述折叠光学系统在位于像平面处的漫射屏上形成第一干涉图像和第二干涉图像。第一干涉图像和第二干涉图像的数字图像被获取并被处理以表征物体的厚度变化。
公开/授权文献
- CN106415191B 具有双边测量能力的掠入射干涉仪 公开/授权日:2021-11-05