Invention Grant
- Patent Title: 一种确定岩石裂纹发育程度的方法及装置
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Application No.: CN201710017322.0Application Date: 2017-01-11
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Publication No.: CN106706884BPublication Date: 2018-12-25
- Inventor: 周喻 , 刘冰 , 王雪 , 吴顺川 , 周建新
- Applicant: 北京科技大学
- Applicant Address: 北京市海淀区学院路30号
- Assignee: 北京科技大学
- Current Assignee: 北京科技大学
- Current Assignee Address: 北京市海淀区学院路30号
- Agency: 北京市广友专利事务所有限责任公司
- Agent 张仲波
- Main IPC: G01N33/24
- IPC: G01N33/24 ; G01N3/08
Abstract:
本发明提供一种确定岩石裂纹发育程度的方法及装置,能够量化各微裂隙组在轴向延伸方向和横向扩张方向上的发育程度。所述方法包括:构建岩石试样的颗粒流模型;根据构建的颗粒流模型,获得颗粒流模型破坏过程中的微裂隙集及所述微裂隙集中每个微裂隙点的坐标值;根据得到的所述微裂隙集及所述微裂隙集中每个微裂隙点的坐标值,基于微裂隙点的密度进行聚类,并根据各聚类中心的距离,对所述微裂隙集中的微裂隙点进行分组,得到多个微裂隙组;采用主成分分析法,分析各微裂隙组的轴向延伸方向和横向扩张方向,并量化各微裂隙组在轴向延伸方向和横向扩张方向上的发育程度。本发明适用于岩土试验与工程技术领域。
Public/Granted literature
- CN106706884A 一种确定岩石裂纹发育程度的方法及装置 Public/Granted day:2017-05-24
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