Invention Grant
- Patent Title: 半导体装置及其制造方法
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Application No.: CN201610019479.2Application Date: 2016-01-13
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Publication No.: CN106783629BPublication Date: 2019-11-01
- Inventor: 韦维克 , 陈柏安 , 陈鲁夫
- Applicant: 新唐科技股份有限公司
- Applicant Address: 中国台湾新竹科学工业园区
- Assignee: 新唐科技股份有限公司
- Current Assignee: 新唐科技股份有限公司
- Current Assignee Address: 中国台湾新竹科学工业园区
- Agency: 北京三友知识产权代理有限公司
- Agent 汤在彦
- Priority: 104138202 2015.11.19 TW
- Main IPC: H01L21/339
- IPC: H01L21/339 ; H01L29/78 ; H01L29/06

Abstract:
本发明提供一种半导体装置及其制造方法。该半导体装置包括:衬底,且衬底包括:高电位区;低电位区;及隔离区,包括电位转换区以及连接区;外延层;第一导电型第一底掺杂区,设于连接区中;第一导电型第一顶掺杂区,设于连接区中,且直接接触第一导电型第一底掺杂区;至少一个第二导电型第一掺杂区,设于第一导电型第一顶掺杂区或第一导电型第一底掺杂区中;第一导电型体区;第一导电型掺杂区;源极区;漏极区;栅极电极;源极电极;及漏极电极。
Public/Granted literature
- CN106783629A 半导体装置及其制造方法 Public/Granted day:2017-05-31
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IPC分类: