发明授权
- 专利标题: 硅基单片集成激光器及其制作方法
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申请号: CN201710078430.9申请日: 2017-02-14
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公开(公告)号: CN106953234B公开(公告)日: 2024-01-09
- 发明人: 仇超 , 龚谦 , 武爱民 , 高腾 , 盛振 , 甘甫烷 , 赵颖璇 , 李军
- 申请人: 上海新微技术研发中心有限公司 , 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 , 南通新微研究院
- 申请人地址: 上海市嘉定区菊园新区胜竹路1399号2幢9层930室
- 专利权人: 上海新微技术研发中心有限公司,中国科学院上海微系统与信息技术研究所,南通新微研究院
- 当前专利权人: 上海新微技术研发中心有限公司,中国科学院上海微系统与信息技术研究所,南通新微研究院
- 当前专利权人地址: 上海市嘉定区菊园新区胜竹路1399号2幢9层930室
- 代理机构: 上海光华专利事务所
- 代理商 罗泳文
- 主分类号: H01S5/323
- IPC分类号: H01S5/323 ; H01S5/32
摘要:
本发明提供一种硅基单片集成激光器及其制作方法,包括:1)于SOI衬底表面制作图形掩膜;2)刻蚀顶层硅及埋氧化硅层,形成直至衬底硅的限向结构;3)于限向结构内生长Ge外延层;4)在Ge外延层上外延生长III‑V族材料,控制Ge厚度和III‑V族材料的厚度,使得III‑V族材料的发光层与SOI衬底的顶层硅层在高度方向上精确对准。本发明利用SOI材料的底层硅作为衬底,通过Ge作为过渡层,实现III‑V族材料的硅上直接外延工艺,设计Ge的厚度和III‑V族材料的厚度,实现III‑V族材料的发光层与顶层硅的对准,使得III‑V族激光器和硅光子器件在高度方向上精确对准;通过光刻、刻蚀等工艺实现III‑V族激光器与其他硅光子器件在水平方向上高精度对准。另外,本发明可提高激光器的热扩散性能。
公开/授权文献
- CN106953234A 硅基单片集成激光器及其制作方法 公开/授权日:2017-07-14