- 专利标题: 用于实现ART沟槽中的Ⅲ‑Ⅴ GAA的INGAAS EPI结构及湿法蚀刻工艺
- 专利标题(英): Ingaas epi structure and wet etch process for enabling iii-v gaa in art trench
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申请号: CN201480083605.X申请日: 2014-12-24
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公开(公告)号: CN107004631A公开(公告)日: 2017-08-01
- 发明人: S·K·加德纳 , W·拉赫马迪 , M·V·梅茨 , G·杜威 , J·T·卡瓦列罗斯 , C·S·莫哈帕特拉 , A·S·默西 , N·M·拉哈尔-乌拉比 , N·M·泽利克 , T·加尼
- 申请人: 英特尔公司
- 申请人地址: 美国加利福尼亚
- 专利权人: 英特尔公司
- 当前专利权人: 英特尔公司
- 当前专利权人地址: 美国加利福尼亚
- 代理机构: 永新专利商标代理有限公司
- 代理商 林金朝; 王英
- 国际申请: PCT/US2014/072396 2014.12.24
- 国际公布: WO2016/105426 EN 2016.06.30
- 进入国家日期: 2017-05-24
- 主分类号: H01L21/762
- IPC分类号: H01L21/762 ; H01L21/336 ; H01L29/78
摘要:
本发明的实施例包括纳米线和纳米带晶体管以及形成这样的晶体管的方法。根据实施例,用于形成微电子器件的方法可以包括在沟槽内形成多层叠置体,所述沟槽形成在浅沟槽隔离(STI)层中。多层叠置体可以至少包括沟道层、形成在所述沟道层下方的释放层、以及形成在所述沟道层下方的缓冲层。可以使所述STI层凹陷以使所述STI层的顶表面位于所述释放层的顶表面下方。暴露的释放层通过相对于所述沟道层选择性地蚀刻掉所述释放层而形成在所述沟道层下方。
公开/授权文献
- CN107004631B 用于实现ART沟槽中的Ⅲ-Ⅴ GAA的INGAAS EPI结构及湿法蚀刻工艺 公开/授权日:2021-07-06
IPC分类: