发明公开
- 专利标题: SiC单晶的制造方法和SiC单晶的制造装置
- 专利标题(英): SiC single crystal production method and SiC single crystal production device
-
申请号: CN201580056466.6申请日: 2015-10-13
-
公开(公告)号: CN107075726A公开(公告)日: 2017-08-18
- 发明人: 楠一彦 , 龟井一人 , 关和明 , 岸田豊 , 森口晃治 , 海藤宏志 , 大黑宽典 , 土井雅喜
- 申请人: 新日铁住金株式会社 , 丰田自动车株式会社
- 申请人地址: 日本东京都;
- 专利权人: 新日铁住金株式会社,丰田自动车株式会社
- 当前专利权人: 新日铁住金株式会社,丰田自动车株式会社
- 当前专利权人地址: 日本东京都;
- 代理机构: 北京林达刘知识产权代理事务所
- 代理商 刘新宇; 张会华
- 优先权: 2014-213237 20141017 JP
- 国际申请: PCT/JP2015/005169 2015.10.13
- 国际公布: WO2016/059788 JA 2016.04.21
- 进入国家日期: 2017-04-17
- 主分类号: C30B29/36
- IPC分类号: C30B29/36
摘要:
本发明提供即使在长时间地进行晶体生长的情况下也能够减少Si-C溶液的温度偏差的、SiC单晶的制造方法。本实施方式的SiC单晶的制造方法包括以下工序:准备工序,在该准备工序中,准备制造装置(100),该制造装置(100)包括容纳有Si-C溶液的原料的坩埚(7)、在下端安装有晶种(9)的晶种轴(41)、以及在中央具有供晶种轴(41)穿过的通孔(60A)且能够配置于坩埚(7)内的中盖(60);生成工序,在该生成工序中,对坩埚(7)内的原料进行加热而生成Si-C溶液(8);生长工序,在该生长工序中,使晶种(9)与Si-C溶液(8)相接触,从而在晶种(9)上制造SiC单晶;以及中盖调整工序,在生长工序中实施该中盖调整工序,使中盖(60)和坩埚(7)中的任一者相对于另一者在高度方向上相对移动,从而将中盖(60)与Si-C溶液(8)之间的高度方向距离的变动幅度调整到第1基准范围内。
IPC分类: