- 专利标题: 化合物半导体电路应用中的瞬态过应力保护的装置和方法
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申请号: CN201710097800.3申请日: 2017-02-23
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公开(公告)号: CN107104102B公开(公告)日: 2021-10-08
- 发明人: S·帕萨萨拉希 , J·A·塞尔瑟多
- 申请人: 美国亚德诺半导体公司
- 申请人地址: 美国马萨诸塞州
- 专利权人: 美国亚德诺半导体公司
- 当前专利权人: 美国亚德诺半导体公司
- 当前专利权人地址: 美国马萨诸塞州
- 代理机构: 中国贸促会专利商标事务所有限公司
- 代理商 欧阳帆
- 优先权: 15/050,876 20160223 US
- 主分类号: H01L27/04
- IPC分类号: H01L27/04
摘要:
公开了化合物半导体电路应用中的瞬态过应力保护的装置和方法。本文提供了用于化合物半导体保护钳位器的装置和方法。在某些配置中,化合物半导体保护钳位器包括电阻器‑电容器(RC)触发网络和金属‑半导体场效应晶体管(MESFET)钳位器。RC触发网络检测ESD/EOS事件何时存在于第一节点和第二节点之间,并且响应于检测到ESD/EOS事件而激活MESFET钳位器。当MESFET钳位器被激活时,MESFET钳位器在第一和第二节点之间提供低阻抗路径,从而提供ESD/EOS保护。当被禁用时,MESFET钳位器在第一和第二节点之间提供高阻抗,并且因此以低泄漏电流和小静态功率耗散操作。
公开/授权文献
- CN107104102A 化合物半导体电路应用中的瞬态过应力保护的装置和方法 公开/授权日:2017-08-29
IPC分类: