- 专利标题: CMOS图像数据训练系统及图像数据串并转换的仿真检测方法
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申请号: CN201710627126.5申请日: 2017-07-28
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公开(公告)号: CN107454385B公开(公告)日: 2019-02-26
- 发明人: 余达 , 刘金国 , 孔德柱 , 马庆军 , 朱含 , 王文华 , 宁永慧
- 申请人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- 申请人地址: 吉林省长春市东南湖大路3888号
- 专利权人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- 当前专利权人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- 当前专利权人地址: 吉林省长春市东南湖大路3888号
- 代理机构: 长春菁华专利商标代理事务所
- 代理商 陶尊新
- 主分类号: H04N17/00
- IPC分类号: H04N17/00 ; H04N5/374
摘要:
CMOS图像数据训练系统及图像数据串并转换的仿真检测方法,涉及CMOS图像数据的串并转换的仿真检测方法,解决现有CMOS图像传感器采用的各传输通道之间在每次上电无确定的相位关系,给数据的串并转换带来困难等问题,包括CMOS图像传感器和数据处理器;数据处理器内部包含iodelay、iserdes、数据异步FIFO、控制异步FIFO、gearbox、ram based shifer和控制器组成。控制器作为CMOS数据训练系统的核心,控制各部分协调工作。CMOS图像传感器在控制器的控制下,输出串行图数据经iodelay、iserdes、数据异步FIFO、gearbox1:2、ram based shifer最终转换为位宽p的并行图像数据。本发明提出基于仿真的串并转换检测方法,针对数据训练的不同阶段产生不同的激励,实现不同的训练策略。
公开/授权文献
- CN107454385A CMOS图像数据训练系统及图像数据串并转换的仿真检测方法 公开/授权日:2017-12-08