- 专利标题: 用于消除光学晶体超精密加工亚表面损伤检测样品安装误差的方法
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申请号: CN201711009854.6申请日: 2017-10-25
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公开(公告)号: CN107748171B公开(公告)日: 2020-04-24
- 发明人: 张勇 , 梁斌 , 侯宁 , 胡旷南
- 申请人: 哈尔滨工业大学
- 申请人地址: 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
- 专利权人: 哈尔滨工业大学
- 当前专利权人: 哈尔滨工业大学
- 当前专利权人地址: 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
- 代理机构: 哈尔滨市松花江专利商标事务所
- 代理商 岳昕
- 主分类号: G01N23/207
- IPC分类号: G01N23/207
摘要:
用于消除光学晶体超精密加工亚表面损伤检测样品安装误差的方法,本发明涉及用于消除光学晶体亚表面损伤检测样品安装误差的方法。本发明为了解决光学晶体超精密加工亚表面损伤无损检测中存在样品安装误差问题。本发明包括:一:安装被检测光学晶体;二:调整X射线源初始位置;三:使X射线与被检测光学晶体表面之间形成实际入射角ω′并固定;四:进行检测;五:得到不同实际入射角ω′条件下X射线与检测表面和亚表面晶体结构发生衍射的特征谱线信息;六:计算样品安装角度误差δ;七:根据得到的δ修正实际入射角ω′,消除光学晶体超精密加工亚表面损伤检测过程中由于样品安装造成的误差。本发明用于光学晶体表面损伤检测领域。
公开/授权文献
- CN107748171A 用于消除光学晶体超精密加工亚表面损伤检测样品安装误差的方法 公开/授权日:2018-03-02