Invention Publication
- Patent Title: 分光测定装置
- Patent Title (English): Spectroscopic measurement apparatus
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Application No.: CN201710640422.9Application Date: 2017-07-31
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Publication No.: CN107870037APublication Date: 2018-04-03
- Inventor: 白岩久志
- Applicant: 大塚电子株式会社
- Applicant Address: 日本大阪府枚方市
- Assignee: 大塚电子株式会社
- Current Assignee: 大塚电子株式会社
- Current Assignee Address: 日本大阪府枚方市
- Agency: 北京品源专利代理有限公司
- Agent 吕琳; 朴秀玉
- Priority: 2016-186050 2016.09.23 JP
- Main IPC: G01J3/04
- IPC: G01J3/04 ; G01N21/01 ; G02B5/02

Abstract:
本发明提供一种能减少由光纤的弯曲所产生的测定误差并且提高供给至分光测定部的光的光量的分光测定装置。分光测定装置具备:分光测定部,对通过狭缝射入的光进行分光测定;以及光漫射单元,使从多个光纤供给的光漫射,以漫射后的光直接或者经由透镜或反射镜射入所述狭缝的方式相对于所述狭缝进行物理固定。
Public/Granted literature
- CN107870037B 分光测定装置 Public/Granted day:2021-06-29
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