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公开(公告)号：CN103575508A
公开(公告)日：2014-02-12
申请号：CN201310030361.6
申请日：2013-01-25
Applicant: 大塚电子株式会社
CPC classification number: G02B17/00 , G01J1/0214 , G01J1/04 , G01J1/0407 , G01J1/0425 , G01J3/0218 , G01J3/0254 , G01J3/0262 , G01J3/505 , G01J2001/0481 , G01J2001/4252 , G02B5/08
Abstract: 本发明提供一种光学特性测量装置，包括内壁具有反射面的半球部以及平面部，该平面部被配置成堵塞半球部的开口，在半球部的内壁侧具有反射面。平面部包括第一窗，该第一窗用于在包含半球部的实质的曲率中心的范围内安装光源。半球部和平面部中的至少一方包括多个第二窗，该多个第二窗以具有规定的规则性的方式进行配置，用于从半球部的内部取出光。
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公开(公告)号：CN103292978A
公开(公告)日：2013-09-11
申请号：CN201310054909.0
申请日：2013-02-20
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G01M11/02
CPC classification number: F21V21/14 , G01J1/0223 , G01J1/0228 , G01J1/0242 , G01J2001/4247
Abstract: 本发明提供光源支承装置及采用该光源支承装置的光辐射特性测定装置。该光源支承装置包括：基座部；第1支承部，其用于将基座部能够绕第1轴旋转地支承；第1臂部和第2臂部，其分别连接于基座部的两端，沿着与第1轴平行的方向延伸；一对第2支承部，其设置在第1臂部和第2臂部的彼此面对的各个位置，用于支承被测定光源。一对第2支承部构成为使所支承的被测定光源能够绕与第1轴垂直的第2轴旋转。第1臂部和第2臂部中的至少一个臂部相对于基座部装卸自如。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103969230B
公开(公告)日：2018-06-26
申请号：CN201410040012.7
申请日：2014-01-27
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G01N21/64
Abstract: 提供一种能够在更短时间内测量荧光体的光学性能的测量装置以及测量方法。测量装置(1)具备：光源(52)，其用于对荧光体照射激励光；受光部(10)，其用于接收激励光中的透过了荧光体的光以及通过激励光而由荧光体产生的荧光；以及检测部(200)，其用于检测由受光部接收到的光。受光部包括：壳体(12)，其在激励光的照射方向上具有规定长度；光漫射部(14)，其被配置在壳体的荧光体一侧；以及窗(18)，其被配置在壳体的与光漫射部相反一侧，用于将所入射的荧光引导到检测部。
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公开(公告)号：CN103575508B
公开(公告)日：2017-05-24
申请号：CN201310030361.6
申请日：2013-01-25
Applicant: 大塚电子株式会社
CPC classification number: G02B17/00 , G01J1/0214 , G01J1/04 , G01J1/0407 , G01J1/0425 , G01J3/0218 , G01J3/0254 , G01J3/0262 , G01J3/505 , G01J2001/0481 , G01J2001/4252 , G02B5/08
Abstract: 本发明提供一种光学特性测量装置，包括内壁具有反射面的半球部以及平面部，该平面部被配置成堵塞半球部的开口，在半球部的内壁侧具有反射面。平面部包括第一窗，该第一窗用于在包含半球部的实质的曲率中心的范围内安装光源。半球部和平面部中的至少一方包括多个第二窗，该多个第二窗以具有规定的规则性的方式进行配置，用于从半球部的内部取出光。
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公开(公告)号：CN104246456A
公开(公告)日：2014-12-24
申请号：CN201280072460.4
申请日：2012-07-30
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G01J1/00
CPC classification number: G01J1/06 , G01J1/0223 , G01J1/0403 , G01J1/0488 , G01J1/4257 , G01J2001/4247
Abstract: 本发明提供一种光学测量装置(1)，包括：中空的圆筒状构件(2)，其在一个平面上具有第一开口(10)，并且在另一平面上具有第二开口(18)；旋转机构(52、54)，其用于使圆筒状构件绕圆筒状构件的中心轴即第一轴线旋转；支承部(20、22)，其用于将光源(30)配置于测量位置，该测量位置在第一轴线上，且该测量位置为所照射的光穿过第一开口而入射到圆筒状构件的内部的位置；第一反射部(12)，其配置在圆筒状构件的内部，用于反射从光源穿过第一开口而入射的光；第二反射部(14)，其用于反射圆筒状构件的内部的光，使该光穿过第二开口而沿第一轴线向圆筒状构件的外部传播；以及至少一个的第三反射部(16)，其用于使第一反射部的反射光入射到第二反射部。
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公开(公告)号：CN104246456B
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201280072460.4
申请日：2012-07-30
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G01J1/00
CPC classification number: G01J1/06 , G01J1/0223 , G01J1/0403 , G01J1/0488 , G01J1/4257 , G01J2001/4247
Abstract: 本发明提供一种光学测量装置(1)，包括：中空的圆筒状构件(2)，其在一个平面上具有第一开口(10)，并且在另一平面上具有第二开口(18)；旋转机构(52、54)，其用于使圆筒状构件绕圆筒状构件的中心轴即第一轴线旋转；支承部(20、22)，其用于将光源(30)配置于测量位置，该测量位置在第一轴线上，且该测量位置为所照射的光穿过第一开口而入射到圆筒状构件的内部的位置；第一反射部(12)，其配置在圆筒状构件的内部，用于反射从光源穿过第一开口而入射的光；第二反射部(14)，其用于反射圆筒状构件的内部的光，使该光穿过第二开口而沿第一轴线向圆筒状构件的外部传播；以及至少一个的第三反射部(16)，其用于使第一反射部的反射光入射到第二反射部。
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