以范围为基础的实时扫描电子显微镜的非视觉分格器
摘要:
本发明揭示了一种用于识别例如SEM非视觉缺陷SNV等的非视觉缺陷的技术,所述技术包含:产生晶片的层的图像;使用分类器来评估所述图像的至少一个属性;及识别所述晶片的所述层上的所述非视觉缺陷。控制器可经配置以使用所述分类器来识别所述非视觉缺陷。此控制器可与例如扫描电子显微镜SEM的缺陷重检工具通信。
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