发明公开
CN108122907A 半导体器件及其制造方法
审中-实审
- 专利标题: 半导体器件及其制造方法
- 专利标题(英): Semiconductor device and method for fabricating the same
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申请号: CN201711164077.2申请日: 2017-11-21
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公开(公告)号: CN108122907A公开(公告)日: 2018-06-05
- 发明人: 崔孝锡 , 金哲性 , 李在恩
- 申请人: 三星电子株式会社
- 申请人地址: 韩国京畿道
- 专利权人: 三星电子株式会社
- 当前专利权人: 三星电子株式会社
- 当前专利权人地址: 韩国京畿道
- 代理机构: 北京市柳沈律师事务所
- 代理商 屈玉华
- 优先权: 10-2016-0161857 2016.11.30 KR
- 主分类号: H01L27/06
- IPC分类号: H01L27/06 ; H01L29/08 ; H01L29/78
摘要:
一种半导体器件包括:基板;形成在基板中的第一凹陷;填充第一凹陷的第一源极/漏极;在第一源极/漏极上的垂直金属电阻器;以及使金属电阻器与第一源极/漏极分隔开的绝缘衬垫,该垂直金属电阻器在两个栅电极之间。
公开/授权文献
- CN108122907B 半导体器件及其制造方法 公开/授权日:2023-07-25
IPC分类: