发明公开
- 专利标题: 具有半导体元件的集成电路结构及其制造方法
- 专利标题(英): Integrated circuit structure with semiconductor elements, and manufacturing method of integrated circuit structure
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申请号: CN201710036189.3申请日: 2017-01-17
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公开(公告)号: CN108321116A公开(公告)日: 2018-07-24
- 发明人: 徐尉伦 , 巩永谦 , 叶铭琮 , 刘彦秀 , 吕安泰 , 许尧壁 , 龚吉富
- 申请人: 联华电子股份有限公司
- 申请人地址: 中国台湾新竹市新竹科学工业园区
- 专利权人: 联华电子股份有限公司
- 当前专利权人: 联华电子股份有限公司
- 当前专利权人地址: 中国台湾新竹市新竹科学工业园区
- 代理机构: 北京市柳沈律师事务所
- 代理商 陈小雯
- 主分类号: H01L21/762
- IPC分类号: H01L21/762
摘要:
本发明公开一种具有半导体元件的集成电路结构及其制造方法。该集成电路结构包括:一基板,具有相对的一顶表面和一底表面,且基板具有多个区域;多个半导体元件形成于基板,且分别位于不同区域内,和一超深沟槽隔离结构,形成于基板内且围绕各个区域的周围,以隔离位于不同区域的该些半导体元件。其中超深沟槽隔离结构自基板的顶表面延伸至底表面而穿过基板。
IPC分类: