发明授权
- 专利标题: 绝缘子表面污秽程度测量方法、装置及系统
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申请号: CN201810482720.4申请日: 2018-05-18
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公开(公告)号: CN108693195B公开(公告)日: 2020-11-27
- 发明人: 王黎明 , 郭晨鋆 , 李旭 , 马仪 , 梅红伟 , 于虹 , 赵晨龙 , 李昊
- 申请人: 云南电网有限责任公司电力科学研究院 , 清华大学深圳研究生院
- 申请人地址: 云南省昆明市经济技术开发区云大西路105号
- 专利权人: 云南电网有限责任公司电力科学研究院,清华大学深圳研究生院
- 当前专利权人: 云南电网有限责任公司电力科学研究院,清华大学深圳国际研究生院
- 当前专利权人地址: 云南省昆明市经济技术开发区云大西路105号
- 代理机构: 北京弘权知识产权代理事务所
- 代理商 逯长明; 许伟群
- 主分类号: G01N21/94
- IPC分类号: G01N21/94 ; G01N21/35
摘要:
本申请提供一种绝缘子表面污秽程度测量方法、装置及系统,通过红外热像法利用绝缘子表面污秽积累分布的不均匀性造成的热物理性质差异带来的相应表面区域的温度变化差异来判断绝缘子表面污秽程度以及分布情况,能够实现对绝缘子表面污秽的在线监测,有利于实现对绝缘子绝缘状况的实时监测,进而在危害出现之前采取必要的措施,此外,目前实验室内进行污闪得一系列研究皆为在绝缘子表面涂污均匀人工污秽,所得试验结果与实际运行绝缘子数据差异较大,根据红外热像测量方法得到的绝缘子表面污秽分布情况指导实验室人工污秽试验,能够在人工污秽于自然污秽之间建立联系,得到能够适用于实际运行绝缘子上污闪规律的数据。
公开/授权文献
- CN108693195A 绝缘子表面污秽程度测量方法、装置及系统 公开/授权日:2018-10-23