发明授权
- 专利标题: 一种N型隧穿场效应晶体管及其制作方法
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申请号: CN201810582456.1申请日: 2018-06-07
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公开(公告)号: CN108807522B公开(公告)日: 2021-04-27
- 发明人: 卜建辉 , 李多力 , 蔡小五 , 罗家俊 , 韩郑生
- 申请人: 中国科学院微电子研究所
- 申请人地址: 北京市朝阳区北土城西路3号
- 专利权人: 中国科学院微电子研究所
- 当前专利权人: 中国科学院微电子研究所
- 当前专利权人地址: 北京市朝阳区北土城西路3号
- 代理机构: 北京华沛德权律师事务所
- 代理商 房德权
- 主分类号: H01L29/739
- IPC分类号: H01L29/739 ; H01L21/331 ; H01L29/06
摘要:
本发明公开了一种N型隧穿场效应晶体管及其制作方法,该晶体管包括:半导体衬底;沟道区,形成于所述半导体衬底上;P型源区,形成于所述半导体衬底上,位于所述沟道区的第一侧,所述P型源区具有P+型掺杂;N型漏区,形成于所述半导体衬底上,位于所述沟道区中与所述第一侧相对的第二侧,所述N型漏区具有N+型掺杂;栅极,设置在所述沟道区的第三侧,所述栅极与所述沟道区间设置有栅氧层;隔离区,设置在所述沟道区与所述N型漏区间的漏体结所在区域处,所述隔离区填充有预设隔离氧化物,所述隔离区与所述栅氧层交叠,所述隔离区用于隔离所述N型漏区与所述沟道区间的电子,避免在所述漏体结所在区域处发生隧穿。
公开/授权文献
- CN108807522A 一种N型隧穿场效应晶体管及其制作方法 公开/授权日:2018-11-13
IPC分类: