发明公开
- 专利标题: 一种偏振调制结构及偏振测量系统
- 专利标题(英): Polarization modulation structure and polarization measurement system
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申请号: CN201810504060.5申请日: 2018-05-23
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公开(公告)号: CN109000798A公开(公告)日: 2018-12-14
- 发明人: 谷洪刚 , 刘世元 , 陈修国 , 江浩 , 张传维
- 申请人: 华中科技大学
- 申请人地址: 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- 专利权人: 华中科技大学
- 当前专利权人: 华中科技大学
- 当前专利权人地址: 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- 代理机构: 华中科技大学专利中心
- 代理商 张彩锦; 曹葆青
- 主分类号: G01J4/00
- IPC分类号: G01J4/00
摘要:
本发明属于光学检测装置领域,并具体公开了一种偏振调制结构及偏振测量系统,其包括旋转补偿器和偏振器,所述旋转补偿器为连续旋转的复合波片,该复合波片由多个同种材料的单波片组合而成,该复合波片的整体结构由各单波片的厚度和光轴夹角依据偏振特性传递矩阵优化设计确定。本发明的偏振调制结构具有结构简单,容易加工,波长适用范围广的优点,并且基于该偏振调制结构可设计出宽波段偏振测量系统,适应于宽波段精密偏振测量的需求。
公开/授权文献
- CN109000798B 一种偏振调制结构及偏振测量系统 公开/授权日:2019-11-22