发明公开
- 专利标题: 一种光发射次模块的测试装置和测试方法
- 专利标题(英): Test device and test method for light emission sub-modules
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申请号: CN201811065723.4申请日: 2018-09-10
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公开(公告)号: CN109143036A公开(公告)日: 2019-01-04
- 发明人: 施伟明 , 赵关宝 , 徐虎 , 孙权 , 吴贝佳 , 朱霞 , 杨晓佳
- 申请人: 江苏亨通光网科技有限公司 , 江苏亨通光电股份有限公司
- 申请人地址: 江苏省苏州市吴江经济技术开发区交通北路168号;
- 专利权人: 江苏亨通光网科技有限公司,江苏亨通光电股份有限公司
- 当前专利权人: 江苏亨通光网科技有限公司,江苏亨通光电股份有限公司
- 当前专利权人地址: 江苏省苏州市吴江经济技术开发区交通北路168号;
- 代理机构: 苏州国诚专利代理有限公司
- 代理商 杜丹盛
- 主分类号: G01R31/28
- IPC分类号: G01R31/28 ; G01R1/04
摘要:
本发明提供了一种光发射次模块的测试装置,其使得光发射次模块测试成本缩减80%,测试周期缩减一半以上,操作方便,性能可靠,传输稳定。其包括测试底座,所述测试底座设置有一上凸块,所述上凸块上设置有水平向插装槽,测试模组插装于水平向插装槽内,所述测试模组内置有驱动系统、放大系统、控制管理系统,所述测试模组的外露部分设置有包括转接跳线接口、转接信号线接口,所述上凸块的上端面布置有测试平台,所述测试平台用于装夹待测试的光发射次模块,所述测试模组的外露端面还包括有对应的指示灯。