发明公开
- 专利标题: 质量分析装置和质量分析方法
- 专利标题(英): APPARATUS FOR AND METHOD OF MASS ANALYSIS
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申请号: CN201810788020.8申请日: 2018-07-18
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公开(公告)号: CN109283238A公开(公告)日: 2019-01-29
- 发明人: 佐久田昌博
- 申请人: 日本株式会社日立高新技术科学
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 日本株式会社日立高新技术科学
- 当前专利权人: 日本株式会社日立高新技术科学
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 北京三友知识产权代理有限公司
- 代理商 黄纶伟; 孙明浩
- 优先权: 2017-142235 2017.07.21 JP
- 主分类号: G01N27/62
- IPC分类号: G01N27/62
摘要:
提供质量分析装置和质量分析方法,能够在视觉上清晰地识别质量分析困难的副成分有无存在。一种质量分析装置(110),其具有显示部(220),并且对含有测定物质的试样进行分析,其中,质量分析装置(110)还具有:存储部(215),其存储针对测定物质的质谱的区域进行计算而求取的理论峰(T);一致度计算部(217),其根据区域内的试样的质谱(N)与理论峰各自所具有的多个峰来计算表示一致的程度的一致度;一致度显示控制部(219a),其使显示部显示一致度;以及重叠显示控制部(219b),其使显示部以质荷比一致的方式将试样的质谱和理论峰重叠显示。
公开/授权文献
- CN109283238B 质量分析装置和质量分析方法 公开/授权日:2023-02-28