发明授权
- 专利标题: 超快光波长测量系统
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申请号: CN201811618907.9申请日: 2018-12-27
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公开(公告)号: CN109612590B公开(公告)日: 2020-05-26
- 发明人: 李明 , 肖晔 , 孙术乾 , 祝宁华
- 申请人: 中国科学院半导体研究所
- 申请人地址: 北京市海淀区清华东路甲35号
- 专利权人: 中国科学院半导体研究所
- 当前专利权人: 中国科学院半导体研究所
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区清华东路甲35号
- 代理机构: 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理商 任岩
- 主分类号: G01J9/00
- IPC分类号: G01J9/00
摘要:
本发明公开了一种超快光波长测量系统,该系统包括一窄线宽激光器、第一至第五光耦合器、一锁模激光器、第一至第五光电探测器、一第一模数转换模块、一第二模数转换模块、一数字信号处理模块和一色散补偿光纤。本发明通过处理锁模激光器的输出宽谱光信号与参考光信号及待测光信号的拍频信号来得到测量光信号的波长,测量范围等于锁模激光器的谱宽,为10‑100nm量级。测量速率等于锁模激光器的脉冲重复频率,可达到50MHz。在数字信号处理模块中引入互相关算法来提高测量精度,测量精度反比于光电探测器的带宽乘以色散补偿光纤的色散系数,为10pm量级。因此,利用本发明可以实现大带宽,高速率,高精度的光波长测量。
公开/授权文献
- CN109612590A 超快光波长测量系统 公开/授权日:2019-04-12