- 专利标题: 基于高光谱技术的绝缘子表面含水量的检测方法
- 专利标题(英): Detection method of insulator surface water content based on hyperspectral technology
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申请号: CN201910071649.5申请日: 2019-01-25
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公开(公告)号: CN109765192A公开(公告)日: 2019-05-17
- 发明人: 张血琴 , 马欢 , 吴广宁 , 郭裕钧 , 李春茂 , 张晓青 , 石超群 , 康永强 , 邱彦 , 李院生
- 申请人: 西南交通大学
- 申请人地址: 四川省成都市二环路北一段111号
- 专利权人: 西南交通大学
- 当前专利权人: 西南交通大学
- 当前专利权人地址: 四川省成都市二环路北一段111号
- 代理机构: 成都博通专利事务所
- 代理商 陈树明
- 主分类号: G01N21/31
- IPC分类号: G01N21/31
摘要:
一种基于高光谱技术的绝缘子表面含水量检测方法。它先利用高光谱成像仪拍摄已知不同表面含水量的绝缘子表面得到对应的高光谱图像,对高光谱图像进行黑白校正、多元散射校正、平滑去噪,得到表面含水量Si的高光谱谱线Xi,进而得到含水量BP神经网络预测模型;然后拍摄得到待测绝缘子的高光谱图像,进行黑白校正、多元散射校正、平滑去噪,得到待测绝缘子的高光谱谱线X0,将待测绝缘子的高光谱谱线X0输入预测模型,即可得到待测绝缘子的表面含水量。该方法能在带电情况下,对现场绝缘子进行非接触实时检测,其操作简单、易于实现;能方便地为绝缘子的防潮抗湿设计、制造和维护,提供可靠、准确的测试依据。
公开/授权文献
- CN109765192B 基于高光谱技术的绝缘子表面含水量的检测方法 公开/授权日:2020-09-18
IPC分类: