一种用于测量荧光薄膜透射率或反射率光谱的测量方法
摘要:
本发明提出一种用于测量荧光薄膜透射率或反射率光谱的测量方法,本发明所涉及的测量方法,先根据荧光薄膜的激发光谱波段范围和发射光谱波段范围,选择合适波长的截止滤光片,通过在探测器前放置合适波长的截止滤光片,可以将从样品出来的光中的荧光发射部分滤除掉,从而获得荧光薄膜准确的透射率或反射率曲线;本发明操作简便,测量准确度高,适用面广,既适用于下转换荧光薄膜,也适用于上转换荧光薄膜,即适用于测量荧光薄膜的透射率,也适用于测量荧光薄膜的反射率。
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