- 专利标题: 一种用于测量荧光薄膜透射率或反射率光谱的测量方法
- 专利标题(英): Measurement method for measuring fluorescent film transmittance or reflectance spectrum
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申请号: CN201910314687.9申请日: 2019-04-18
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公开(公告)号: CN109946282A公开(公告)日: 2019-06-28
- 发明人: 韩朝霞 , 田程 , 张大伟 , 韩军强 , 林辉 , 洪瑞金 , 陶春先 , 黄元申 , 黄卫佳 , 倪争技
- 申请人: 上海理工大学
- 申请人地址: 上海市杨浦区军工路516号
- 专利权人: 上海理工大学
- 当前专利权人: 上海理工大学
- 当前专利权人地址: 上海市杨浦区军工路516号
- 代理机构: 上海邦德专利代理事务所
- 代理商 余昌昊
- 主分类号: G01N21/64
- IPC分类号: G01N21/64 ; G01N21/59 ; G01N21/552
摘要:
本发明提出一种用于测量荧光薄膜透射率或反射率光谱的测量方法,本发明所涉及的测量方法,先根据荧光薄膜的激发光谱波段范围和发射光谱波段范围,选择合适波长的截止滤光片,通过在探测器前放置合适波长的截止滤光片,可以将从样品出来的光中的荧光发射部分滤除掉,从而获得荧光薄膜准确的透射率或反射率曲线;本发明操作简便,测量准确度高,适用面广,既适用于下转换荧光薄膜,也适用于上转换荧光薄膜,即适用于测量荧光薄膜的透射率,也适用于测量荧光薄膜的反射率。
公开/授权文献
- CN109946282B 一种用于测量荧光薄膜透射率或反射率光谱的测量方法 公开/授权日:2021-09-07