发明公开
- 专利标题: 半导体装置及其制造方法、和包括其的半导体封装件
- 专利标题(英): SEMICONDUCTOR DEVICES, METHODS OF MANUFACTURING THE SEMICONDUCTOR DEVICES AND SEMICONDUCTOR PACKAGES INCLUDING THE SAME
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申请号: CN201811267757.1申请日: 2018-10-29
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公开(公告)号: CN109962064A公开(公告)日: 2019-07-02
- 发明人: 千镇豪 , 孙成旻 , 全炯俊 , 文光辰 , 安振镐 , 李镐珍 , 藤崎纯史
- 申请人: 三星电子株式会社
- 申请人地址: 韩国京畿道
- 专利权人: 三星电子株式会社
- 当前专利权人: 三星电子株式会社
- 当前专利权人地址: 韩国京畿道
- 代理机构: 北京天昊联合知识产权代理有限公司
- 代理商 赵南; 张帆
- 优先权: 10-2017-0145253 20171102 KR
- 主分类号: H01L25/18
- IPC分类号: H01L25/18 ; H01L23/48 ; H01L23/485 ; H01L23/488 ; H01L21/60
摘要:
一种半导体装置及其制造方法,所述半导体装置包括:延伸穿过衬底的通孔电极结构;通孔电极结构上的再分布层;以及导电焊盘,该导电焊盘包括延伸穿过再分布层的贯穿部分以及贯穿部分上的突出部分,所述突出部分从再分布层的上表面突出,其中突出部分的上表面的中间区平坦,并且不比突出部分的上表面的边缘区更靠近衬底。
公开/授权文献
- CN109962064B 半导体装置及其制造方法、和包括其的半导体封装件 公开/授权日:2024-02-09
IPC分类: