Invention Grant
- Patent Title: 偏振测量装置、偏振测量方法及光配向方法
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Application No.: CN201810135372.3Application Date: 2018-02-09
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Publication No.: CN110132420BPublication Date: 2020-11-27
- Inventor: 张一志 , 王帆 , 李玉龙
- Applicant: 上海微电子装备(集团)股份有限公司
- Applicant Address: 上海市浦东新区张东路1525号
- Assignee: 上海微电子装备(集团)股份有限公司
- Current Assignee: 上海微电子装备(集团)股份有限公司
- Current Assignee Address: 上海市浦东新区张东路1525号
- Agency: 上海思捷知识产权代理有限公司
- Agent 王宏婧
- Main IPC: G01J4/00
- IPC: G01J4/00

Abstract:
本发明公开了一种偏振测量装置、测量方法及光配向方法,测量装置包括光源、起偏偏振器、检偏偏振器、旋转模块、图像传感器及分析模块,光源发出的光经过起偏偏振器起偏,经过检偏偏振器检偏后入射图像传感器,旋转模块驱动检偏偏振器旋转,图像传感器实时获取检偏后光的成像信息,分析模块根据成像信息计算起偏偏振器在不同入射角对下的偏振特性。本发明以图像传感器代替能量探测器进行偏振测量,利用图像传感器中像素阵列的不同像素点对不同入射角度的光进行偏振测量,只需要对起偏偏振器在一定入射角度范围内的偏振进行一个周期的采集测量,就可以计算得出起偏偏振器在不同入射角度下的消光比与偏光角度,精简了偏振测试过程,提高了测试效率。
Public/Granted literature
- CN110132420A 偏振测量装置、偏振测量方法及光配向方法 Public/Granted day:2019-08-16
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