发明公开

半导体工艺方法
摘要:
本发明提供一种半导体工艺方法,包括如下步骤:对待处理材料层进行离子注入;于离子注入后的待处理材料层的表面形成离子扩散阻挡层;将表面形成有离子扩散阻挡层的待处理材料层进行退火处理。本发明的半导体工艺方法通过首先在离子注入后的待处理材料层的表面形成离子扩散阻挡层,再将离子注入后的待处理材料层进行退火处理,在退火处理过程中,离子扩散阻挡层可以阻挡离子的扩散,从而避免离子扩散至快速热退火机台的腔室内,不会在快速热退火机台的腔室内壁造成附着,可以确保温度探测装置准确探测快速热退火机台的腔室内的温度,降低产品的报废率;同时,还可以降低快速热退火机台的维护频率,从而节约人力物力。
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