发明公开
CN110148559A 半导体工艺方法
无效 - 撤回
- 专利标题: 半导体工艺方法
- 专利标题(英): Semiconductor process method
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申请号: CN201910398689.0申请日: 2019-05-14
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公开(公告)号: CN110148559A公开(公告)日: 2019-08-20
- 发明人: 韦伟 , 洪纪伦 , 吴宗祐 , 林宗贤
- 申请人: 德淮半导体有限公司
- 申请人地址: 江苏省淮安市淮阴区长江东路599号
- 专利权人: 德淮半导体有限公司
- 当前专利权人: 德淮半导体有限公司
- 当前专利权人地址: 江苏省淮安市淮阴区长江东路599号
- 代理机构: 上海光华专利事务所
- 代理商 史治法
- 主分类号: H01L21/265
- IPC分类号: H01L21/265 ; H01L21/324
摘要:
本发明提供一种半导体工艺方法,包括如下步骤:对待处理材料层进行离子注入;于离子注入后的待处理材料层的表面形成离子扩散阻挡层;将表面形成有离子扩散阻挡层的待处理材料层进行退火处理。本发明的半导体工艺方法通过首先在离子注入后的待处理材料层的表面形成离子扩散阻挡层,再将离子注入后的待处理材料层进行退火处理,在退火处理过程中,离子扩散阻挡层可以阻挡离子的扩散,从而避免离子扩散至快速热退火机台的腔室内,不会在快速热退火机台的腔室内壁造成附着,可以确保温度探测装置准确探测快速热退火机台的腔室内的温度,降低产品的报废率;同时,还可以降低快速热退火机台的维护频率,从而节约人力物力。
IPC分类: