发明公开
CN110192275A 半导体装置
审中-实审
- 专利标题: 半导体装置
- 专利标题(英): SEMICONDUCTOR DEVICE
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申请号: CN201780083579.4申请日: 2017-11-10
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公开(公告)号: CN110192275A公开(公告)日: 2019-08-30
- 发明人: 杉田悟 , 田边龙太 , 荒井俊介
- 申请人: 株式会社电装
- 申请人地址: 日本爱知县
- 专利权人: 株式会社电装
- 当前专利权人: 株式会社电装
- 当前专利权人地址: 日本爱知县
- 代理机构: 永新专利商标代理有限公司
- 代理商 吕文卓
- 优先权: 2017-006938 2017.01.18 JP
- 国际申请: PCT/JP2017/040519 2017.11.10
- 国际公布: WO2018/135104 JA 2018.07.26
- 进入国家日期: 2019-07-16
- 主分类号: H01L25/07
- IPC分类号: H01L25/07 ; H01L23/29 ; H01L25/18 ; H02M7/48
摘要:
在半导体装置中,第1半导体模组(30)构成上臂,具有相互并联地连接的多个半导体芯片(301)、封固树脂体(300)及正极端子(305)。第2半导体模组(40)构成下臂,具有相互并联地连接的多个半导体芯片(401)、封固树脂体(400)及负极端子(406)。在与作为层叠方向的Z方向正交的X方向上,第1、第2半导体模组排列配置。第1、第2半导体模组中的至少一方具有将半导体芯片(301)的低电位侧的电极和半导体芯片(401)的高电位侧的电极进行电气性中继的中继端子(307、408)。
公开/授权文献
- CN110192275B 半导体装置 公开/授权日:2023-07-11
IPC分类: