- 专利标题: 一种基于红外光谱仪同时获取材料温度及光谱方向发射率的测量方法
- 专利标题(英): Measuring method for simultaneously obtaining material temperature and emissivity in spectral direction based on infrared spectrometer
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申请号: CN201910463343.4申请日: 2019-05-30
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公开(公告)号: CN110207829A公开(公告)日: 2019-09-06
- 发明人: 夏新林 , 柴永浩 , 刘梦 , 孙创 , 陈学
- 申请人: 哈尔滨工业大学
- 申请人地址: 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
- 专利权人: 哈尔滨工业大学
- 当前专利权人: 哈尔滨工业大学
- 当前专利权人地址: 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
- 代理机构: 哈尔滨市阳光惠远知识产权代理有限公司
- 代理商 刘景祥
- 主分类号: G01J5/00
- IPC分类号: G01J5/00 ; G01N21/35
摘要:
本发明公开了一种基于红外光谱仪同时获取材料温度及光谱方向发射率的测量方法,包括:步骤一:对光谱仪进行标定,得出光谱仪特征函数中的系数;步骤二:将待测样片置于样片槽内,将样片加热至T1,通过光谱仪测量待测样片表面辐射得到曲线一;步骤三;微调加热片使被测样片的测量温度发生小于5K的热响应变化;重复步骤二,此时被测样片温度为T2,通过光谱仪测量样片表面光谱辐射能量曲线二;步骤四:选取两个特定的波长λ1和λ2,得到以下式子:步骤五:利用全局最优算法解出 T1和T2,得到不同时刻被测样片的真温和相对应波长的发射率。本发明是一种仅根据两组相差很小温度下的方向光谱辐射测量曲线同时获取材料光谱方向发射率与温度的新方法。
公开/授权文献
- CN110207829B 一种基于红外光谱仪同时获取材料温度及光谱方向发射率的测量方法 公开/授权日:2020-11-13